磁光调制法测量高双折射光纤拍长的灵敏度分析

基于法拉第磁光效应,研究在光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响.通过理论分析发现,除了目前通常采用的线偏振光沿光纤双折射主轴注入结合渥拉斯顿棱镜45°检偏的测试方式之外,另有两种测试方式也可以得到最大灵敏度,一种是线偏振光45°注入结合渥拉斯顿棱镜沿轴检偏,另一种是圆偏振光注入结合渥拉斯顿棱镜沿轴检偏.最后一种实验方式不需要在入射端精确定位光纤的双折射主轴方向,能简化实验过程,避免角度调节引入的测量误差.

磁光调制法双折射光纤拍长测试技术研究

研究了光纤拍长磁光调制法测试系统中,对于给定的磁隙宽度和磁场强度,起偏方式与检偏方式对拍长测试灵敏度的影响。通过理论分析与实验研究,发现有三种测试方式均能得到最大灵敏度:1)入射线偏振光的偏振方向与光纤双折射主轴夹角θ为0°或90°,同时Wollaston棱镜的两个检偏主轴与保偏光纤的双折射主轴夹角γ为45°;2)入射线偏振光θ=45°,同时γ=0°或90°;3)入射光为圆偏振光,同时γ=0°或90°。三种情况下的测试灵敏度基本相等,但是第三种实验方式不需要在入射端精确定位光纤的双折射主轴方向,简化了实验过程,并可避免角度调节所引入的测量误差。理论分析与实验数据基本一致。