薄壁筒减薄旋压成形的扩口现象研究

整体化成形高性能、高质量的屏蔽套是我国核电装备自主化制造急需解决的重大问题。通过有限元数值模拟的方法,针对薄壁筒旋压中的端部形变不稳定现象(扩口现象)的产生机理进行分析,研究壁厚及起旋位置对筒形件旋压中扩口高度的影响规律。分析结果表明,增加壁厚和使起旋位置远离端口时,扩口高度降低。提出了抑制端部扩径现象的工艺端口结构,并通过旋压成形实验进行验证。实验结果表明,增加合理的工艺端口结构可以有效抑制端部的扩径高度,提高旋压构件的整体刚度。