期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试
1
作者 Keithley Inc 《电子质量》 2003年第2期7-9,共3页
文章介绍用4200-SCS进行低电流测试的几个重要的影响因数,包括接地,屏蔽,测试中的噪声和系统稳定时间。
关键词 4200-SCS 超低电流测试 接地 屏蔽 噪声 半导体特性分析系统
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部