超大规模集成电路适应性测试方法综述

随着现代半导体工艺的迅猛发展,超大规模集成电路(VISI)的研发和制造技术日臻成熟,一个普通芯片,甚至由几亿个晶体管组成。随着集成电路设计和制造复杂度的提高,工艺技术的不断创新,电路测试难度大幅度提升,测试成本飙升,因此,自适应测试的发展至关重要,动态地调整测试流程,消除测试模式冗余,减少了测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本。

超大规模集成电路的板级测试研究

为检测以超大规模集成电路为核心的电子设备,设计了基于边界扫描技术的电路测试系统。对超大规模集成电路进行板级测试,并提出在互连网络两端的边界扫描单元分别做输出操作的针对互连测试和簇测试过程的测试方法。测试结果表明:利用该方法,提高了超大规模集成电路板级故障的分辨能力,获得了更好的测试效果。

基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统

采用现场可编程门阵列 (FPGA)和PCI 90 5 2目标接口芯片 ,实现了符合PCI总线规范和IEEE 114 9 1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统 ,具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能 ,结构简单、速度快。

国产超大规模集成电路测试系统综合试验验证方法

为全面验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标和性能,提出测试系统的一种综合试验验证方法,根据测试系统不同的验证阶段,分别从系统仪器技术指标测试试验验证、系统软硬件功能测试试验验证和系统集成电路测试能力试验验证3个阶段开展综合试验,并针对各阶段的验证方法开展测试系统的试验验证实例分析,验证实例结果表明该综合试验验证方法能够全方位验证国产超大规模集成电路测试系统的工作指标、功能性能以及测试能力,进一步验证所述方法的可行性;该验证方法能够有效解决集成电路测试系统投入测试应用前的试验验证问题,也为新研集成电路测试系统的指标与功能性能验证提供一种有效的综合验证思路。

ITS9000系列超大规模集成电路测试系统检定方法

以 ITS90 0 0 MX超大规模集成电路测试系统为背景 ,系统地研究了 ITS90 0 0系列测试系统的检定方法 ,重点描述了它的基本思想、原理和关键技术。

超大规模集成电路的并行测试技术

本文介绍先进的VLSI并行测试技术的原理和实现方法 。

超大规模集成电路内装测试生成模式新方法

本文阐述一种由片内二进制计数与“异或”门阵列组成的内装测试电路产生测试模式的新方法。根据线性变换的基本原理对电路设计的“异或”门阵列进一步简化,可以实现在有限的硬件支持下达到预期故障覆盖率的效果,从而促进了内装测试技术的推广和应用。

向着VLSI（超大规模集成电路）化发展——数据驱动型微处理机的开发

夏普公司和三菱电机公司在大阪大学寺田浩诏教授的指导下，共同开发了采用能高度并行处理的数据驱动方式的新一代微处理机，这次完成了基础技术的研制井予以发表．由此可以看出，公司在面向实用化者面前进了一大步。

关于超大规模集成电路系统设计的讨论

为了明确超大规模集成电路的设计的理想方法,文章从超大规模集成电路系统的设计要求开始,通过对VLSI系统设计一般方法的研究,重点研究了利用Verilog硬件描述语言的设计,总结出了层次化是VLSI设计的优化方法。

大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法

本文提出了一种对 VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位 VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义。

超大规模集成电路设计基础 第二讲 NMOS 集成电路基础

2.1 增强型与耗尽型NMOS晶体管NMOS集成电路中最小单元是两种场效应晶体管,即增强型和耗尽型NMOS场效应管,分别简称为NMOS(E)和NMOS(D),其符号和结构如图2.1所示。

发展航天 振兴中华——中国航天工业总公司大规模、超大规模集成电路检测与失效分析中心成立大会简述

为了控制大规模集成电路(LSl)、超大规模集成电路(VLSI)的质量,确保航天型号和武器装备的可靠性,经过几年的筹划和建设,中国航天工业大规模、超大规模集成电路检测和失效分析中心于1999年5月12日正式在北京成立。中国航天机电集团总经理夏国洪出席会议,为中心挂牌揭幕并讲了话。出席会议的还有航天总公司质量局、科研局、供销总公司、九院的领导邵锦成、朱明让、白敬武、奚为政、陶家渠、张俊超、白丁等。国防科工委科技质量司代表到会祝贺。会议由张俊超副院长主持。

大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上。

基于典型集成电路的自动测试演示验证研究

当前国产超大规模集成电路测试设备由于技术指标、工作可靠性、制造成本等诸多因素,在国内尚未得到大规模的市场应用;从集成电路的测试需求出发,给出了自研超大规模集成电路测试系统的总体架构组成,重点开展了基于典型集成电路的自动测试演示验证方法研究,并以国产某型超大规模静态存储器芯片作为演示验证的对象,利用自研测试系统完成了基于静态存储器芯片的自动测试演示验证试验;试验结果表明基于典型集成电路的自动测试演示验证方法和过程合理可行,能够为国产新研超大规模集成电路测试系统推广前的自动测试演示验证提供参考,同时可结合不同类型集成电路的测试需求深入应用到各类集成电路的测试过程。

征稿通知 第15届国际专用集成电路会议

第十五届IEEE国际专用集成电路会议(ASICON 2023)将于2023年10月24日—27日在江苏南京白金汉爵大酒店举行。这次会议旨在为VLSI电路设计者、ASIC用户、系统集成工程师、IC制造厂商、工艺和器件工程师以及CAD/CAE工具开发者提供一个国际论坛,介绍他们在各自领域获得的最新进步和研发成果。四天的会议将汇集中外著名专家关于VLSI电路、器件、工艺设计与制造等技术最新发展的主题演讲、论文报告以及资深专家的讲课。大会将评选出优秀学生与青年学者论文,并安排EDA工具、制造厂商、IC工艺、器件测试仪器以及最新ASIC产品的展示。

集成电路功能测试的计算机辅助生成方法

介绍了一种VLSI功能测试生成的结构分析法。它采用Petri网作为测试序列的模型工具,通过简化Petri网选择不确定度最小的测试序列,以降低测试序列的复杂度。