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超深亚微米工艺时代集成电路设计领域所面临的技术挑战 被引量:3
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作者 蒋安平 《中国集成电路》 2006年第7期29-33,64,共6页
集成电路工艺加工能力的不断提高给设计工作带来了多方面需要解决的问题。本文主要探讨目前在集成电路设计领域各个方面的设计技术挑战和研究热点问题。
关键词 集成电路工艺 设计领域 设计技术 超深亚微米工艺 加工能力
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超深亚微米单元工艺库快速表压缩方法 被引量:2
2
作者 栾志国 严晓浪 +1 位作者 罗小华 葛海通 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期41-44,47,共5页
 针对超深亚微米集成电路工艺库中的快速查表模型,提出了一种新的曲面拟合方法,实现了表压缩。从建立相应的数学模型入手,提出一种完备的表压缩方法。试验结果表明,在指定表大小的前提下,此压缩方法能在整体上得到相当小的偏差。
关键词 深亚微米单元工艺 快速表压缩模型 深亚微米集成电路 曲面拟合 表压缩
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北京举办“两岸多项目晶圆(MPW)服务技术研讨会——TSMC设计工艺及流程”
3
作者 曾翀 《中国集成电路》 2002年第1期8-8,共1页
近日,北京大学微处理器研究开发中心(MPRC)和台积电(TSMC)在北京联合举办了"两岸多项目圆片(MPW)服务技术研讨会——TSMC设计工艺及流程",其宗旨就在于针对TSMC的深亚微米和超深亚微米工艺,开展多项目圆片服务进行技术研讨。
关键词 多项目 微处理器 设计工艺 技术研讨会 超深亚微米工艺 研究开发中心 晶圆 北京大学 大规模集成电路 集成电路设计
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性能驱动总体布线的关键技术及研究进展 被引量:8
4
作者 经彤 洪先龙 +2 位作者 蔡懿慈 鲍海云 许静宇 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第5期677-688,共12页
在计算机软件领域 ,超大规模集成电路技术的迅猛发展迫切需要高性能 CAD工具——电子设计自动化(EDA)软件工具的支持 .与物理设计相关的 CAD技术称为布图设计 ,总体布线是布图设计中一个极为重要的环节 .目前 ,在深亚微米、超深亚微米... 在计算机软件领域 ,超大规模集成电路技术的迅猛发展迫切需要高性能 CAD工具——电子设计自动化(EDA)软件工具的支持 .与物理设计相关的 CAD技术称为布图设计 ,总体布线是布图设计中一个极为重要的环节 .目前 ,在深亚微米、超深亚微米工艺下的超大规模、甚大规模集成电路设计中 ,性能驱动总体布线算法已成为布图设计中的一个国际研究热点 .针对这一热点 ,分析了性能驱动总体布线算法研究中亟待解决的关键技术 ,并详细阐述了国内外的重要相关研究工作进展情况 . 展开更多
关键词 总体布线 超深亚微米工艺 大规模集成电路 布图设计 电子设计自动化
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SoC片上系统技术在武器装备上的应用 被引量:3
5
作者 栾传俊 彭力彬 +1 位作者 李保林 王宏宇 《飞航导弹》 北大核心 2005年第4期27-29,共3页
介绍了SoC片上系统技术、IP知识产权核和片上互联,以及硬件-软件协同设计过程,并通过SoC片上系统技术在军事装备上的应用研究,体现出其潜在的军事应用价值。
关键词 SoC片 集成电路 超深亚微米工艺 嵌入式结构 微处理器
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基于Boole过程的考虑互连延迟的逻辑电路波形模拟中的关键问题 被引量:1
6
作者 冯刚 马光胜 杜振军 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2003年第6期13-15,40,共4页
论文运用Boole过程论中对逻辑电路进行描述和计算的基本思想,较好地解决了逻辑电路波形模拟中的冒险检测与消除、反馈环路处理、伪路径识别和惯性延迟冲突等关键问题。在此基础上,面向详细布线提出RC延迟与动态加载串扰相结合的互连线... 论文运用Boole过程论中对逻辑电路进行描述和计算的基本思想,较好地解决了逻辑电路波形模拟中的冒险检测与消除、反馈环路处理、伪路径识别和惯性延迟冲突等关键问题。在此基础上,面向详细布线提出RC延迟与动态加载串扰相结合的互连线延迟计算方法,并将其融入到基于Boole过程的波形模拟算法中。论文充实和完善了基于Boole过程的波形模拟算法,改进了其中的不足之处,扩展了Boole过程的应用。 展开更多
关键词 Boole过程 互连延迟 波形模拟 惯性延迟 耦合电容 逻辑电路 超深亚微米工艺
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IP核互连策略及规范 被引量:2
7
作者 陈林 王家兵 《今日电子》 2005年第8期42-45,共4页
关键词 互连技术 IP核 超深亚微米工艺 设计能力 IC设计 工艺能力 微处理器 系统发展 设计风险
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单元特性提取中采样点偏离现象的研究 被引量:2
8
作者 李伟良 葛海通 +2 位作者 罗晓华 梁中书 严晓浪 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期22-25,共4页
 为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况,研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象,并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型,无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果...  为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况,研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象,并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型,无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果均表明,该方法不仅耗费时间少,定位也能满足单元建库的要求,经过实例化后,能很好地应用于超深亚微米工艺下的单元特性提取。 展开更多
关键词 大规模集成电路 特性提取 采样点 查表模型 超深亚微米工艺 时序信息库 采样点
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针对线间串扰现象的静态定时分析 被引量:2
9
作者 沈培福 李华伟 《计算机工程与科学》 CSCD 2005年第4期25-28,53,共5页
超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以... 超深亚微米工艺下,线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大,但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此,如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析,找出那些导致电路故障的线间串扰,则可以有效提高测试生成效率,并降低测试成本。基于此目的,文章在静态定时分析中引入对线间串扰现象的分析,在线时延模型的基础上使用重叠跳变对故障模型,只需要求出与最长通路的重叠跳变对即可。在对 ISCAS'89基准电路的实验中,各电路需要测试的串扰数平均减少至 10%以下。相对于已发表的实验结果,本文的实验结果具有较高的CPU效率。 展开更多
关键词 集成电路 制造工艺 超深亚微米工艺 线间串扰现象 静态定时分析
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Challenges to Data-Path Physical Design Inside SOC 被引量:2
10
作者 经彤 洪先龙 +5 位作者 蔡懿慈 许静宇 杨长旗 张轶谦 周强 吴为民 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第8期785-793,共9页
Previously,a single data-path stack was adequate for data-path chips,and the complexity and size of the data-path was comparatively small.As current data-path chips,such as system-on-a-chip (SOC),become more complex,m... Previously,a single data-path stack was adequate for data-path chips,and the complexity and size of the data-path was comparatively small.As current data-path chips,such as system-on-a-chip (SOC),become more complex,multiple data-path stacks are required to implement the entire data-path.As more data-path stacks are integrated into SOC,data-path is becoming a critical part of the whole giga-scale integrated circuits (GSI) design.The traditional physical design methodology can not satisfy the data-path performance requirements,because it can not accommodate the data-path bit-sliced structure and the strict performance (such as timing,coupling,and crosstalk) constraints.Challenges in the data-path physical design are addressed.The fundamental problems and key technologies in data-path physical design are analysed.The corresponding researches and solutions in this research field are also discussed. 展开更多
关键词 physical design data-path bit-sliced structure SYSTEM-ON-A-CHIP giga-scale integrated circuits very-deep-submicron
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基于平台的SoC技术 被引量:1
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作者 连冰 邸娜 李兵兵 《今日电子》 2003年第9期56-57,共2页
本文介绍了基于平台的SoC技术,对其关键技术进行了介绍,比较了基于平台的SoC技术与传统IC技术的异同。
关键词 SOC 片上系统 集成电路 深亚微米 深亚微米工艺 IP模块 SOC测试
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