超球面合格率——电路优化设计的重要判据

合格率是电路优化设计的重要判据,它通常都是用蒙特卡洛试验估计的,计算量很大。近来有人尝试用其它判据(如不对称程度),但都未取得令人信服的成果。本文提出了超球面合格率的概念,论证了在容差相同的情况下,超球面合格率越大,合格率越大,并推导出超球面合格率的估计计算不需增加许多计算量。因此用超球面合格率作为电路优化设计的判据,不但在理论上是行得通的,而且在实际分析中也是可行的。