EBSD在超细硬质合金WC晶粒尺寸统计中的应用

硬质合金中WC晶粒度的统计随其尺寸的降低，难度大幅升高。本文作者在多次实验的基础上，成功地将电子背散射衍射（EBSD）技术应用于超细WC-Co硬质合金WC晶粒尺寸统计。以样品A合金（晶粒度约0．2～0．4μm）为例，应用EBSD统计其平均晶粒尺寸为0．36gm的同时，还与其他晶粒度统计方法进行对比分析。另外，取样品B（晶粒度约0．1-0．3μm），经两种不同的烧结工艺烧结后分别进行EBSD分析，对比分析烧结温度对超细WC品粒长大的影响。