用干涉方法研究超薄栅MOS系统中FN振荡电流

采用干涉方法研究FN振荡电流 ,得到一个精确而且简单的测量栅介质层的厚度及隧穿电子在栅介质层导带中的有效质量的表达式 .通过和求解三角势垒的薛定谔方程得到的结果比较验证了干涉方法的可行性 .干涉方法揭示电子在隧穿过程中体现了波的本性 ,这种方法的一个重要特征是它对不同形状的势垒和势阱可能均适用 .还分析了有关FN振荡电流的实验现象 。