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跨接设计与测试的新的边界扫描工具
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作者 傅平 《国外电子测量技术》 1994年第4期14-17,共4页
VXI边界扫描仪器是优于最佳的PC和ATE的第三种结构。
关键词 边界扫描工具 跨接设计 测试
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