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利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究
被引量:
2
1
作者
张翼
杨祎罡
+1 位作者
李元景
赵新强
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期373-377,共5页
针对现有的正电子分析方法无法分析材料内部缺陷的缺点,提出了一种新的正电子分析方法——光致正电子分析。利用加速器打靶产生的轫致辐射X射线照射样品,通过光子在材料内部发生的电子对效应来产生正电子,然后测量511 keV湮没光子进行...
针对现有的正电子分析方法无法分析材料内部缺陷的缺点,提出了一种新的正电子分析方法——光致正电子分析。利用加速器打靶产生的轫致辐射X射线照射样品,通过光子在材料内部发生的电子对效应来产生正电子,然后测量511 keV湮没光子进行正电子分析。通过模拟计算定量研究了该方法用于正电子分析的灵敏度、屏蔽条件等问题;建立了一套实验系统,在该系统上成功实现了对511keV湮没光子能谱的精确测量,并在低碳钢样品的缺陷含量与测量结果之间得到了对应关系。
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关键词
正电子分析
轫致辐射x射线
电子对效应
缺陷检测
下载PDF
职称材料
题名
利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究
被引量:
2
1
作者
张翼
杨祎罡
李元景
赵新强
机构
清华大学工程物理系
粒子技术与辐射成像教育部重点实验室(清华大学)
解放军第二炮兵装备研究院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期373-377,共5页
文摘
针对现有的正电子分析方法无法分析材料内部缺陷的缺点,提出了一种新的正电子分析方法——光致正电子分析。利用加速器打靶产生的轫致辐射X射线照射样品,通过光子在材料内部发生的电子对效应来产生正电子,然后测量511 keV湮没光子进行正电子分析。通过模拟计算定量研究了该方法用于正电子分析的灵敏度、屏蔽条件等问题;建立了一套实验系统,在该系统上成功实现了对511keV湮没光子能谱的精确测量,并在低碳钢样品的缺陷含量与测量结果之间得到了对应关系。
关键词
正电子分析
轫致辐射x射线
电子对效应
缺陷检测
Keywords
Positron analysis, Bremsstrahlung- induced
x
- ray, pair production effect, defect measurement
分类号
O571.33 [理学—粒子物理与原子核物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究
张翼
杨祎罡
李元景
赵新强
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011
2
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