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用于纳电子器件的超薄氮氧硅薄膜的软失效电导
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作者 许铭真 谭长华 +1 位作者 何燕冬 段小蓉 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z1期126-128,共3页
研究了2.5nm超薄氮氧硅薄膜的软击穿电导特性.统计实验结果表明,软失效电导和软失效时间与环境温度之间均遵从AHhenius规则,而且软失效电导和软失效时间遵从一个反对称的规律.它们源于同一个应力诱生缺陷导电机制.
关键词 氮氧硅薄膜 软失效电导 失效时间 缺陷导电
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