滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软 X光能谱测量的滤光片及 X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置 3W1B束线 ,流强 4 0～ 80 m A的运行条件 ,在 10 0～ 160 0 e V能区对滤光片及 X射线二极管 ( XRD)作能响曲线标定。重点对 C滤片及 Al阴极 XRD的灵敏面作能响面均匀性研究 ,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。