DTI和SWI检查儿童轻微脑外伤的研究进展

儿童发生轻微脑外伤(mild traumatic brain injury,mTBI)的人数越来越多,成为儿童远期认知功能障碍的主要原因之一。临床通常将CT作为首选检查方式,但磁共振(magnetic resonance imaging,MRI)检查相对于CT检查没有电离辐射,能够更好的显示脑组织的细微结构,且对于病灶的敏感性高,故MRI检查儿童脑外伤有替代CT检查的趋势。弥散张量成像(diffusion tensor imaging,DTI)和磁敏感加权成像(susceptibility weighted imaging,SWI)是MRI新技术,它们对由轻微脑外伤造成的脑白质损伤和弥漫性轴索损伤(diffuse axonal injury,DAI)敏感性高,对于患者损伤严重程度的临床评估以及预后都有重要指导意义,因此被越来越多的应用于儿童轻微脑外伤患者。本文就近年来DTI和SWI磁共振成像检查儿童轻微脑外伤的研究进展作一简单综述。

低场MR T2 FLAIR序列在轻微脑外伤中的诊断价值

目的探讨低场MR T2 FLAIR序列在轻微脑外伤中的诊断价值。方法对120例轻微脑外伤患者分别进行CT、常规T2 FRFSE、T1 FLAIR序列扫描并加扫T2 FLAIR序列。结果 CT平扫发现阳性病灶143个,MR常规T2WI+T1WI像发现阳性病灶118个,加扫T2 FLAIR序列后阳性病灶为176个。结论低场MR加扫T2FLAIR序列能清楚显示病灶及其范围和大小,并可增加轻微脑外伤的病灶检出率,减少漏诊。