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电致发光谱测量β- FeSi_2-Si异质结载流子限制(英文)
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作者 李成 末益崇 长谷川文夫 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期230-233,共4页
设计了一种将 β FeSi2 颗粒埋入非故意掺杂Si中的Sip π n二极管来确定 β FeSi2 Si异质结的能隙差 .当二极管处于正向偏置时 ,通过Sin p-结注入的电子扩散到 β FeSi2 并由于Si与 β FeSi2 之间的能隙差而受到限制 ,电荷在异质结的... 设计了一种将 β FeSi2 颗粒埋入非故意掺杂Si中的Sip π n二极管来确定 β FeSi2 Si异质结的能隙差 .当二极管处于正向偏置时 ,通过Sin p-结注入的电子扩散到 β FeSi2 并由于Si与 β FeSi2 之间的能隙差而受到限制 ,电荷在异质结的积累反过来阻挡了电子的继续扩散 ,将电子局域化在靠近Sin p-结的 p- Si区 .少子的局域化减少了非辐射复合的途径 ,Si和β FeSi2 的发光增强 ,淬灭速率变慢 ,在室温低电流下仍可得到Si和 β FeSi2 电致发光 .Si和 β FeSi2 发光强度的比率对温度的依存性表明同型异质结对电子限制能力的减弱符合热发射模型 ,由此确定出Si和 β FeSi2 异质结导带带阶差为 0 2eV . 展开更多
关键词 β-FeSi2-Si异质结 电致发光 带阶 载流子限制
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分别限制量子阱激光器的载流子限制特性及漏电流
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作者 任大翠 李含轩 王玉霞 《长春光学精密机械学院学报》 1995年第3期6-11,共6页
本文在数值求解分别限制量子阶激光器的光增益及阈值电流密度的基础上,计算和分析了漂移和扩散两种机制引起的漏电流对半导体激光器阅值电流密度的影响讨论了激光器的结构参数与漏电流的关系。计算结果和实验值进行了比较。
关键词 分别限制 量子阱 漏电流 激光器 载流子限制
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Be基Ⅱ-Ⅵ族四元合金对蓝绿激光器发光层载流子的限制作用
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作者 王善忠 何力 沈学础 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第7期481-488,共8页
ZnSe基激光器的退化缺陷(特别是层错缺陷)严重地影响了长寿命器件的获得.人们开始将注意力投向离子性较低的Be基化合物,希望Be的加入能有效地改善器件的性能.由于对Be基化合物的了解十分有限,本文从基本的原子参数出发... ZnSe基激光器的退化缺陷(特别是层错缺陷)严重地影响了长寿命器件的获得.人们开始将注意力投向离子性较低的Be基化合物,希望Be的加入能有效地改善器件的性能.由于对Be基化合物的了解十分有限,本文从基本的原子参数出发,用原子轨道线性组合(LCAO)方法计算了Be-Ⅵ化合物及其他Ⅱ-Ⅵ族化合物价带的ofset.结合带隙的实验值,给出了Ⅱ-Ⅵ族化合物导带的ofset.粗略分析了Be基二元化合物用于ZnSe载流子限制的可能性.根据虚晶近似,用插值方法计算了Be基四元合金相对于ZnSe价带、导带的ofset.讨论了Be基四元合金用作活性层和载流子限制层的可能性. 展开更多
关键词 化合物半导体 四元合金 蓝绿激光器 载流子限制
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