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X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析 被引量:7
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作者 杨冬 虞孝麒 龚达涛 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第12期1553-1557,共5页
 在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像。基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心,采用...  在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像。基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置,计算精度约为0.2pixels。 展开更多
关键词 ICF靶 X射线法 辐向平均法 二阶微分
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