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纯金属Bi中高能重离子辐照效应
1
作者
王志光
M.Toulemonde
+3 位作者
金运范
C.Dufour
J.Dural
E.Paumier
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第12期992-995,共4页
利用高能重离子(Kr, Xe, Sn和Pb )辐照处于 16或 100 K的低熔点纯金属 Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺...
利用高能重离子(Kr, Xe, Sn和Pb )辐照处于 16或 100 K的低熔点纯金属 Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺陷的产生等.结果表明,强的电子能损可在纯金属Bi中引起附加缺陷的产生,从而使得辐照损伤效率>1.电子能损值大时,入射离子在Bi中引起的辐照效应主要是电子能损效应.辐照温度和入射离子速度对辐照效应的强弱有一定的影响.
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关键词
纯金属铋
辐照损伤效率
电子能损效应
高能重离子
辐照
效应
电阻率
辐照
剂量
原文传递
题名
纯金属Bi中高能重离子辐照效应
1
作者
王志光
M.Toulemonde
金运范
C.Dufour
J.Dural
E.Paumier
机构
中国科学院近代物理研究所
CIRIL
LERMAT
出处
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第12期992-995,共4页
文摘
利用高能重离子(Kr, Xe, Sn和Pb )辐照处于 16或 100 K的低熔点纯金属 Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺陷的产生等.结果表明,强的电子能损可在纯金属Bi中引起附加缺陷的产生,从而使得辐照损伤效率>1.电子能损值大时,入射离子在Bi中引起的辐照效应主要是电子能损效应.辐照温度和入射离子速度对辐照效应的强弱有一定的影响.
关键词
纯金属铋
辐照损伤效率
电子能损效应
高能重离子
辐照
效应
电阻率
辐照
剂量
分类号
TG146.17 [金属学及工艺—金属材料]
TG111 [金属学及工艺—物理冶金]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
纯金属Bi中高能重离子辐照效应
王志光
M.Toulemonde
金运范
C.Dufour
J.Dural
E.Paumier
《科学通报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
0
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