两种硅泡沫材料耐电子束辐射性能的研究

采用傅立叶红外 (FT- IR)谱仪、万能材料试验机、电子蠕变松弛试验机分析了辐照前后材料的化学结构、压缩性能和应力松弛率的变化。同时使用质谱 (MS)仪确定了辐解气体产物的组分 ,并通过负压进样系统利用气相色谱 (GC)仪准确测定了气体产量。结果表明 ,两种硅泡沫材料经辐照后其化学结构和力学性能都发生了改变 ,相同条件下甲基乙烯基硅泡沫 (MVSF)的力学性能受吸收剂量影响比甲基苯基乙烯基硅泡沫 (MPVSF)更为显著 ;MVSF辐解的气体产量比 MDVSF的高。综合分析结果 ,认为MPVSF的耐辐射性比 MVSP的强 ,因此推荐 MPVSF替代