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宽输入共模电压范围电流检测放大器的研究与设计 被引量:4
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作者 江力 吴晓波 严晓浪 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1289-1294,共6页
针对高端电流检测放大器输入级对宽输入共模电压范围的要求,对宽输入共模电压范围放大器的输入结构开展了研究,提出了一种宽共模输入范围的输入级结构,特点是具有低输入偏置电流,并能兼顾高低共模电平工作的需要.给出了整个电流检测放... 针对高端电流检测放大器输入级对宽输入共模电压范围的要求,对宽输入共模电压范围放大器的输入结构开展了研究,提出了一种宽共模输入范围的输入级结构,特点是具有低输入偏置电流,并能兼顾高低共模电平工作的需要.给出了整个电流检测放大器的电路设计.该放大器在1.5μm BCD工艺下设计实现.芯片的测试结果表明,当采用5V单电源供电时,电路的输入共模范围可达0~30V,最大总误差不超过1.67%. 展开更多
关键词 输入共模电压范围 输入 高端电流检测 BCD工艺
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一种高共模输入范围高输出电压摆幅的CMOS运算放大器 被引量:2
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作者 牛秀卿 何人人 《南开大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1994年第1期20-23,81,共5页
本文报道了一种具有高共模输入范围和高输出电压摆幅的CMOS运算放大器。为了达到高的共模输入电压范围,使用了互补差分对。输出级采用了AB类推挽输出以获得高的输出摆幅。计算机模拟结果表明,运算放大器具有73dB的开环增益... 本文报道了一种具有高共模输入范围和高输出电压摆幅的CMOS运算放大器。为了达到高的共模输入电压范围,使用了互补差分对。输出级采用了AB类推挽输出以获得高的输出摆幅。计算机模拟结果表明,运算放大器具有73dB的开环增益。在电源电压为±5V时,负载电阻为10kΩ,输出电压摆幅为±4.8V。 展开更多
关键词 共模输入电压 CMOS 运算放大器
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一种高共模电压集成差分放大器的设计
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作者 张鑫 魏海龙 +1 位作者 尤路 陈蒙 《微电子学与计算机》 2024年第2期52-57,共6页
针对差分放大器芯片国产化的需求,基于兼容金属薄膜电阻40 V双极工艺,设计一款高共模抑制比(Common Mode Rejection Ratio,CMRR)、±120 V共模输入电压的集成差分放大器。文章介绍了高共模电压差分放大器的基本原理和结构组成,分析... 针对差分放大器芯片国产化的需求,基于兼容金属薄膜电阻40 V双极工艺,设计一款高共模抑制比(Common Mode Rejection Ratio,CMRR)、±120 V共模输入电压的集成差分放大器。文章介绍了高共模电压差分放大器的基本原理和结构组成,分析了差分放大器的设计难点,分别为共模抑制比、输入失调电流以及增益误差,采用片内集成金属薄膜电阻结合激光在线修调技术实现高共模抑制比、通过改进型的基极电流补偿结构降低了输入失调电流,减少输入失调电流对电路采样精度的影响,采用改进型达林顿管提高放大器的开环增益,降低放大器的增益误差。整体芯片尺寸为2.82 mm×2.02 mm,采用±15 V双电源供电,静态电流为1.36 mA。流片后的测试结果表明:差分放大器在正常供电时,共模抑制比达到85 dB,输入失调电流仅为84 pA,失调电流的补偿精度达到98.1%,增益误差为0.02%。 展开更多
关键词 差分放大器 共模抑制比 共模输入电压 基极电流补偿结构
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一种新型滞环电流控制电路的设计 被引量:5
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作者 谢治中 何杞鑫 《电子器件》 CAS 2008年第6期1895-1898,共4页
传统的滞环电流控制电路通过共基极差分放大器采样电流信号,放大器的偏置电流会对检测电流有较大影响。提出了一种新型滞环电流控制电路,其采用宽共模输入电压范围的比较器结构,电流检测信号从双极型晶体管基极输入,能有效减小对检测电... 传统的滞环电流控制电路通过共基极差分放大器采样电流信号,放大器的偏置电流会对检测电流有较大影响。提出了一种新型滞环电流控制电路,其采用宽共模输入电压范围的比较器结构,电流检测信号从双极型晶体管基极输入,能有效减小对检测电流的影响。该电路在25 V 1.5μm BCD工艺下设计实现,运用在白光LED恒流驱动芯片之中。仿真结果表明该电路的共模输入电压范围为5~25 V,从检测电流吸收的偏置电流不超过308 nA,能较好地完成恒流控制的功能。 展开更多
关键词 滞环电流控制电路 共模输入电压范围 BCD工艺
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你是否超越了运放的输入共模区间?
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作者 Todd Toporski 《电子设计技术 EDN CHINA》 2011年第11期46-46,48,49,共3页
为自己的电路挑选运放要通过一个选择过程,其『中要考虑到最关键的应用参数。审查的参数可能包括:电源电压、增益带宽积、转换速率,以及输入噪声电压。另外还必须考虑输入共模区问,这对所有运放电路都是一个关键参数。
关键词 运放 输入共模电压 电源 德州仪器
原文传递
LOW-POWER LVDS I/O INTERFACE FOR ABOVE 2GB/S-PER-PIN OPERATION 被引量:3
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作者 Wang Xihu Wu Longsheng Liu Youbao 《Journal of Electronics(China)》 2009年第4期525-531,共7页
Low Voltage Differential Signaling (LVDS) has become a popular choice for high-speed serial links to conquer the bandwidth bottleneck of intra-chip data transmission. This paper presents the design and the implementat... Low Voltage Differential Signaling (LVDS) has become a popular choice for high-speed serial links to conquer the bandwidth bottleneck of intra-chip data transmission. This paper presents the design and the implementation of LVDS Input/Output (I/O) interface circuits in a standard 0.18 μm CMOS technology using thick gate oxide devices (3.3 V), fully compatible with LVDS standard. In the proposed transmitter, a novel Common-Mode FeedBack (CMFB)circuit is utilized to keep the common-mode output voltage stable over Process, supply Voltage and Temperature (PVT) variations. Because there are no area greedy resistors in the CMFB circuitry, the disadvantage of large die area in existing transmitter structures is avoided. To obtain sufficient gain, the receiver consists of three am- plifying stages: a voltage amplifying stage, a transconductance amplifying stage, and a transimpedance amplifying stage. And to exclude inner nodes with high RC time constant, shunt-shunt negative feedback is introduced in the receiver. A novel active inductor shunt peaking structure is used in the receiver to fulfill the stringent requirements of high speed and wide Common-Mode Input Region (CMIR) without voltage gain, power dissipation and silicon area penalty. Simulation results show that data rates of 2 Gbps and 2.5 Gbps are achieved for the transmitter and receiver with power con- sumption of 13.2 mW and 8.3 mW respectively. 展开更多
关键词 Input/Output (I/O) Low Voltage Differential Signaling (LVDS) TRANSMITTER Receiver Active inductor shunt peaking
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