一款精准低噪声运算放大器输入级的优化设计

基于4μm 40 V互补双极工艺,设计了一款精准、低噪声、轨到轨输入输出运算放大器。电路采用轨到轨互补输入级,并在此基础上采用了一种新型的低噪声偏置电流补偿电路,该结构的电流噪声与运算放大器输入双极晶体管的电流噪声为相关噪声,同时该电路还可大幅降低运算放大器的输入偏置电流,减小源电阻噪声对电路的不良影响,从而确保运算放大器具有极低的等效输入电压噪声和电流噪声。测试结果表明,利用该结构设计的轨到轨输入输出运算放大器,其带宽为5.05 MHz,大信号低频增益为136.2 dB,输入偏置电流仅为29.8 nA,输入失调电流为11.9 nA,输入失调电压为188μV,输入电压噪声密度为■、共模抑制比(CMRR)为121.6 dB,电源抑制比(PSRR)高达117.3 dB。

一种基于BiFET工艺的高输入阻抗运算放大器

针对CMOS运算放大器存在的输入失调电压高、噪声性能差等问题,提出了一种基于双极结型场效应晶体管(BiFET)工艺的高输入阻抗运算放大器。采用P沟道JFET差分对作为输入级,实现了pA量级的极低输入偏置电流/失调电流和nV/√Hz量级的极低输入噪声电压谱密度。采用双极晶体管构成的共集-共射增益级和互补推挽输出级,实现了100 dB的开环增益、10 V/μs的输出电压转换速率和10 MHz的带宽。该运算放大器适用于对微弱模拟信号的采集和放大。

运算放大器参数误差分析及设计应用

本文就输入失调电压、输入失调电流、输入偏置电流参数对运放输出误差产生的原因及影响进行了分析,并结合具体实例,说明克服以上参数对运放不良影响所采用的方法。

集成运算放大器的误差分析

集成运算放大器性能非理想时所引起的运算误差,直接影响着它的工作性能。本文对此做以分析研究,提出减小误差的方法,为正确选用集成运算放大器及其外接电路元件参数提供依据。

关于模拟集成运算放大器教学中的一个问题

指出在高等院校工科电气电子类模拟电子技术课程常用教材和参考书中关于模拟集成运算放大器输入失调电流IIO的定义不一致的问题 .指出由输入失调电流的常见定义IIO=︱IBN-IBP︱来建立实际模拟集成运算放大器的等效电路时因IIO的方向无法确定而带来的困难 .提出统一定义IIO=IBN-IBP在教学中的合理性 .并举例说明利用此定义所建立的实际模拟集成运放等效电路中电流方向确定的唯一性 .

集成运算放大器在差分信号处理中的应用

详细研究几种基于集成运算放大器的差分运算电路。通过讨论输入失调电流对集成运算放大器输出的影响,推导出集成运算放大器外围阻抗的最佳取值关系。

一种高精度集成运放电路的测试方法研究

集成运放的输入失调电压与输入失调电流对其性能有着较为重要的影响。传统的模拟测试设备配备的运放环路板卡由于板卡费用较为昂贵且内部器件已固定,在多种器件的测试实现上有局限性。为实现运放环路板卡的多种机台适用性和降低测试成本,研究了基于T861测试系统的高精度集成运放电路的测试方法。以LF41X型集成运放电路为例,利用外围辅助运放方法设计了基于T861测试系统的集成运放测试方案,实现了集成运放输入失调电压与输入失调电流的测试方案。通过使用JC5600机台自带的运放环路板和基于T861测试的运放环路板分别对LF41X电路的输入失调电压参数和输入失调电流参数进行测试并将其实测值进行对比,两者结果一致性较好。实验结果表明基于T861测试机台的辅助运放测试方法测试集成运放输入失调电压与输入失调电流的方案具有较高的测量精度,能够满足LF41X电路的相应参数测试需求。