一种提高含边界扫描器件电路板在线测试速度的新方法

在包含有边界扫描器件的电路板在线测试 (In Circuit Test,ICT)中 ,采用边界扫描技术可以简化高密度集成电路的测试矢量生成。但如何在 ICT中减少边界扫描测试矢量从而提高测试速度 ,是 1个重要问题。本文结合 1个实例 ,讨论在 ICT中 ,采用伪穷举法与 Delta Scan法相结合 ,在保证原错误覆盖率不变的情况下减少测试矢量数 ,增加测试速度的方法。

边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用

在对描述器件边界扫描特性的BSDL语言进行了深入研究之后,将其应用于边界扫描自动测试图形生成ATPG与故障诊断软件中。本文以EPM7128SL84芯片为例,说明了其BSDL描述在边界扫描测试程序中的应用方法与要点。

IEEE 1149.1b边界扫描器件描述语言

1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。

利用边界扫描解决PC卡测试难题

每一个设计工程师都面临着这样一个挑战:要在不断减小的电路板空间内集成越来越多的电路功能。由于只有有限的可利用空间,从测试观点看,常规小型化技术很快就要接近其临界值。本文阐述了如何在PCMCIA(PC卡)模块上实现成功的测试策略,这种测试方法使用了板上芯片(COB)技术以及边界扫描测试。