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边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计
被引量:
3
1
作者
孙诚
邵健
《电子与封装》
2022年第3期60-68,共9页
从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几...
从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几种设计方法,阐述电路如何进行基于边界扫描的仿真,分别分析输出功能和输入功能仿真下测试数据在电路中的流向,并将两种仿真功能下的数据流向合二为一,以实现电路结构的优化设计。同时针对门数量、面积、延迟和静态功耗这些参数指标对BSR电路进行性能分析,并根据优化后的电路构建最优的BSC模型。
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关键词
边界
扫描
链
边界扫描寄存器
性能分析
优化设计
仿真
数据流
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职称材料
数字系统设计中边界扫描测试诊断策略
2
作者
刘维周
《南京晓庄学院学报》
2004年第4期13-16,共4页
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。
关键词
边界
扫描
测试
测试存取通道
边界扫描寄存器
BSR
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职称材料
JTAG口及其对Flash的在线编程
被引量:
4
3
作者
李蒙
舒云星
《单片机与嵌入式系统应用》
2003年第6期26-28,共3页
通过JTAG实现对Flash在线编程。首先,介绍JTAG的定义、结构及引脚的定义,并阐述JTAG状态机的工作原理。然后,介绍 JTAG口的边界扫描寄存器,给出实现JTAG在线写Flash的电路,和如何通过JTAG实现对Flash的编程及程序流程图。
关键词
JTAG口
FLASH
在线编程
程序流程图
边界扫描寄存器
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职称材料
数字电路设计中边界扫描测试策略
4
作者
刘维周
《云南大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第S2期283-287,共5页
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略...
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注.
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关键词
边界
扫描
测试
测试存取通道
边界扫描寄存器
BSR
原文传递
基于JTAG的模块测试方法
被引量:
1
5
作者
周梅
《航空电子技术》
2007年第4期36-40,共5页
简要阐述了边界扫描测试的基本用途,介绍了边界扫描的结构及特点;分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法;最后给出三个应用实例:使用JTAG对单个器件的测试,互连测试和对器件编程。
关键词
互连测试
TAP控制器
JTAG命令
测试向量
边界扫描寄存器
(BSR)
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职称材料
题名
边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计
被引量:
3
1
作者
孙诚
邵健
机构
中电科申泰信息科技有限公司
出处
《电子与封装》
2022年第3期60-68,共9页
文摘
从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几种设计方法,阐述电路如何进行基于边界扫描的仿真,分别分析输出功能和输入功能仿真下测试数据在电路中的流向,并将两种仿真功能下的数据流向合二为一,以实现电路结构的优化设计。同时针对门数量、面积、延迟和静态功耗这些参数指标对BSR电路进行性能分析,并根据优化后的电路构建最优的BSC模型。
关键词
边界
扫描
链
边界扫描寄存器
性能分析
优化设计
仿真
数据流
Keywords
boundary scan chain
boundary scan register
performance analysis
optimized design
simulation
data flow
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
数字系统设计中边界扫描测试诊断策略
2
作者
刘维周
机构
南京晓庄学院物理系
出处
《南京晓庄学院学报》
2004年第4期13-16,共4页
文摘
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。
关键词
边界
扫描
测试
测试存取通道
边界扫描寄存器
BSR
Keywords
boundary scan test
test access port
boundary scan register (BSR)
分类号
TN820.2 [电子电信—信息与通信工程]
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职称材料
题名
JTAG口及其对Flash的在线编程
被引量:
4
3
作者
李蒙
舒云星
机构
洛阳工业高等专科学校
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2003年第6期26-28,共3页
文摘
通过JTAG实现对Flash在线编程。首先,介绍JTAG的定义、结构及引脚的定义,并阐述JTAG状态机的工作原理。然后,介绍 JTAG口的边界扫描寄存器,给出实现JTAG在线写Flash的电路,和如何通过JTAG实现对Flash的编程及程序流程图。
关键词
JTAG口
FLASH
在线编程
程序流程图
边界扫描寄存器
分类号
TP311.1 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
下载PDF
职称材料
题名
数字电路设计中边界扫描测试策略
4
作者
刘维周
机构
南京晓庄学院
出处
《云南大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第S2期283-287,共5页
文摘
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注.
关键词
边界
扫描
测试
测试存取通道
边界扫描寄存器
BSR
Keywords
boundary scan test
test access port
boundary scan register
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
原文传递
题名
基于JTAG的模块测试方法
被引量:
1
5
作者
周梅
机构
中国航空无线电电子研究所
出处
《航空电子技术》
2007年第4期36-40,共5页
文摘
简要阐述了边界扫描测试的基本用途,介绍了边界扫描的结构及特点;分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法;最后给出三个应用实例:使用JTAG对单个器件的测试,互连测试和对器件编程。
关键词
互连测试
TAP控制器
JTAG命令
测试向量
边界扫描寄存器
(BSR)
Keywords
interconnection test
TAP controller
JTAG instruction
test vector
boundary-scan register
分类号
TN707 [电子电信—电路与系统]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计
孙诚
邵健
《电子与封装》
2022
3
下载PDF
职称材料
2
数字系统设计中边界扫描测试诊断策略
刘维周
《南京晓庄学院学报》
2004
0
下载PDF
职称材料
3
JTAG口及其对Flash的在线编程
李蒙
舒云星
《单片机与嵌入式系统应用》
2003
4
下载PDF
职称材料
4
数字电路设计中边界扫描测试策略
刘维周
《云南大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
原文传递
5
基于JTAG的模块测试方法
周梅
《航空电子技术》
2007
1
下载PDF
职称材料
已选择
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