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边界扫描寄存器电路的性能分析和优化设计 被引量:3
1
作者 孙诚 邵健 《电子与封装》 2022年第3期60-68,共9页
从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几... 从边界扫描链(Boundary Scan Chain,BSC)和边界扫描寄存器(Boundary Scan Register,BSR)的电路模型展开讨论,分析其电路结构和工作原理,包括几个重要的控制信号,对其结构的优化提供了理论支撑。在此基础上论述了DesignWare BSR电路的几种设计方法,阐述电路如何进行基于边界扫描的仿真,分别分析输出功能和输入功能仿真下测试数据在电路中的流向,并将两种仿真功能下的数据流向合二为一,以实现电路结构的优化设计。同时针对门数量、面积、延迟和静态功耗这些参数指标对BSR电路进行性能分析,并根据优化后的电路构建最优的BSC模型。 展开更多
关键词 边界扫描 边界扫描寄存器 性能分析 优化设计 仿真 数据流
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数字系统设计中边界扫描测试诊断策略
2
作者 刘维周 《南京晓庄学院学报》 2004年第4期13-16,共4页
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注。
关键词 边界扫描测试 测试存取通道 边界扫描寄存器bsr
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数字系统的边界扫描设计技术及应用
3
作者 汪小会 《现代电子技术》 2005年第5期8-9,13,共3页
用边界扫描设计技术可大大改善数字系统的可测试性。本文就边界扫描芯片及应用进行了探讨。
关键词 数字系统 边界扫描 设计技术 寄存器
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边界扫描技术及其应用 被引量:1
4
作者 焦运良 徐炳吉 刘凯 《机械工程与自动化》 2011年第5期209-211,共3页
边界扫描技术作为新技术下高集成度电路板的测量工具,已经越来越受到人们的青睐。介绍了边界扫描各模块的功能及它们之间的相互关系,以及国内外广泛使用的边界扫描软件ASSET的原理和工作过程,避免在使用ASSET软件过程中,因导入错误的网... 边界扫描技术作为新技术下高集成度电路板的测量工具,已经越来越受到人们的青睐。介绍了边界扫描各模块的功能及它们之间的相互关系,以及国内外广泛使用的边界扫描软件ASSET的原理和工作过程,避免在使用ASSET软件过程中,因导入错误的网络表而导致扫描失败。 展开更多
关键词 边界扫描 ASSET 针床 寄存器
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边界扫描结构和IEEE1149.1标准
5
作者 王新政 蔡绪涛 +1 位作者 陈达 王浩宇 《海军航空工程学院学报》 2006年第5期535-538,共4页
介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,以及IEEE 1149.1标准规定必须的3个指令.
关键词 边界扫描结构 测试操作 IEEE 149.1寄存器 IEEE 1149.1指令
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边界扫描技术和IEEE 1149.1标准
6
作者 李航 刘维周 《海军工程大学电子工程学院学报》 2002年第1期21-26,共6页
本文介绍了边界扫描技术及其IEEE 1149.1标准。包括它的基本原理、硬件和软件技术,以期引起同行对BST这一在国内尚属起步阶段的技术的广泛关注。
关键词 边界扫描测试 存取通道 寄存器bsr 描述语言 印刷电路板 电路检验
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数字电路设计中边界扫描测试策略
7
作者 刘维周 《云南大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2005年第S2期283-287,共5页
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略... 可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片或系统设计中不可或缺的重要组成部分.它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑单元提高芯片的可测试性.本文介绍了边界扫描技术及其IEEE1149.1标准.包括其基本原理、硬件和测试策略,以期引起同行对BST这一在国内尚属发展阶段的技术的广泛关注. 展开更多
关键词 边界扫描测试 测试存取通道 边界扫描寄存器bsr
原文传递
JTAG口及其对Flash的在线编程 被引量:4
8
作者 李蒙 舒云星 《单片机与嵌入式系统应用》 2003年第6期26-28,共3页
通过JTAG实现对Flash在线编程。首先,介绍JTAG的定义、结构及引脚的定义,并阐述JTAG状态机的工作原理。然后,介绍 JTAG口的边界扫描寄存器,给出实现JTAG在线写Flash的电路,和如何通过JTAG实现对Flash的编程及程序流程图。
关键词 JTAG口 FLASH 在线编程 程序流程图 边界扫描寄存器
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基于1149.7标准的测试生成方法研究 被引量:2
9
作者 潘金海 颜学龙 《计算机测量与控制》 2016年第8期5-8,共4页
单芯片多核设计、片上系统等技术的不断发展为边界扫描技术带来了新的挑战,多扫描拓扑的测试矢量自动生成也成为了研究的重点与热点;基于1149.7标准对测试生成方法进行了研究,包括互连测试矢量、调试应用指令及数据和寄存器配置命令的生... 单芯片多核设计、片上系统等技术的不断发展为边界扫描技术带来了新的挑战,多扫描拓扑的测试矢量自动生成也成为了研究的重点与热点;基于1149.7标准对测试生成方法进行了研究,包括互连测试矢量、调试应用指令及数据和寄存器配置命令的生成,提出了测试生成的总体框架,以VS2008作为软件平台搭建自动测试生成系统,从数据库中提取目标板信息对寄存器进行配置,生成互连测试矢量或调试数据,最后将生成的信息插入数据库中,在互连测试矢量生成过程中,提出了一种基于边界扫描寄存器的功能来设置网络结点类型的新方法,有效地完成了对复杂网络的测试。 展开更多
关键词 IEEE1149.7 边界扫描 互连测试 调试应用 寄存器命令
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基于JTAG的模块测试方法 被引量:1
10
作者 周梅 《航空电子技术》 2007年第4期36-40,共5页
简要阐述了边界扫描测试的基本用途,介绍了边界扫描的结构及特点;分析了JTAG的命令和使用方法、测试向量的生成方法;最后给出三个应用实例:使用JTAG对单个器件的测试,互连测试和对器件编程。
关键词 互连测试 TAP控制器 JTAG命令 测试向量 边界扫描寄存器(bsr)
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JTAG技术在PCB测试中的应用 被引量:2
11
作者 刘军 《科技信息》 2010年第21期J0008-J0009,共2页
印刷电路板越来越复杂,完整的测试变得越来越重要。上世纪八十年代,联合测试行动工作组(JTAG)开发出边界扫描的测试规范,这个规范后来被制定为IEEE1149.1-1990标准。边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,基于... 印刷电路板越来越复杂,完整的测试变得越来越重要。上世纪八十年代,联合测试行动工作组(JTAG)开发出边界扫描的测试规范,这个规范后来被制定为IEEE1149.1-1990标准。边界扫描测试结构提供了一种方法,可以高效的测试PCB上面的器件,基于边界扫描的PCB测试技术是一项成本低廉、高效、高覆盖率的测试技术,较好的满足了复杂PCB板级测试方面的需求。 展开更多
关键词 边界扫描 移位寄存器 板级测试 TAP CONTROLLER
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其它集成电路
12
《电子科技文摘》 2003年第8期24-25,共2页
Y2002-63377-320 0316884具有性能驱动布局的RTL综合行为=Behavior-to-placed RTL synthesis with performance-driven placement〔会,英〕/Kim,D.& Jung.J.//2001 IEEE/ACM InternationalConference on Computer Aided Design, Dig... Y2002-63377-320 0316884具有性能驱动布局的RTL综合行为=Behavior-to-placed RTL synthesis with performance-driven placement〔会,英〕/Kim,D.& Jung.J.//2001 IEEE/ACM InternationalConference on Computer Aided Design, Digest.-320~325(E)Y2002-63377-327 0316885考虑屏蔽嵌套和网络排序的互联估计公式与应用=Formulae and applications of interconnect estimation consideringshield insertion and net ordering〔会,英〕/Ma, J.D. Z, & He, L. //2001 IEEE/ACM International Con- 展开更多
关键词 INTERCONNECT DIGEST 边界扫描 综合行为 估计公式 placement ORDERING 寄存器传输级 多芯片组件 接口控制器
原文传递
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