边界扫描结构的FPGA实现

本文利用Altera公司的FPGA和EDA工具MAX+plusⅡ和实现了基本的边界扫描结构电路,利用此设计可以满足数字电路系统可测性设计和在系统配置(In-SystemConfiguration)的要求。

测试访问门和边界扫描结构—IEEE 1149.1标准

测试访问门和边界扫描结构—IEEE1149.1标准,定义了置入IC内部的标准测试逻辑结构,以支持IC内部的逻辑测试;IC间相互连接的测试;IC正常运行时的取样测试。文章较全面地介绍该标准,并结合实例加以阐明。

边界扫描结构和IEEE1149.1标准

介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,以及IEEE 1149.1标准规定必须的3个指令.

边界扫描结构及其应用

1 概况随着VLSI器件的集成度增加,器件测试的困难性也随之增加。这类器件应用在整机系统后,整机系统的调试开发工作量亦随之增加。根据测试工程的需要,

边界扫描单元结构的设计与实现

本文在边界扫描原理的基础上,对几种边界扫描单元(输入,输出,三态输出,双向)的结构做了设计和实现。

边界扫描测试结构完备性诊断策略

边界扫描结构完备性测试是在其他任何测试之前建议首先进行的测试操作,以确保边界扫描结构能正常工作。本文在分析了边界扫描结构故障类型与测试原理之后提出了一种完备性诊断策略,并给出了具体实现过程。

VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通过两块xc9572pc84芯片互连PCB板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性。

数字IC边界扫描互连故障诊断新方法

介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两块Xilinx 9572 pc84芯片互连电路板进行了实验验证,结果表明,该方法对板级互连故障测试具有定位准确、检测效率高、可靠性高及易于实现的技术优势。

基于JTAG的计算机硬件实验系统的设计与实现

介绍了一种利用自建JTAG边界扫描结构、基于FPGA实现的计算机硬件实验教学系统。针对系统中计算机与FPGA内实验电路的信息交换以及对实验电路的运行控制两个关键点进行了研究,将边界扫描测试协议作为信息传递手段实现了计算机与FPGA内部实验电路以及运行控制器之间的数据通信。设计了自建JTAG边界扫描结构,并设计了相对通用的运行控制器以实现对不同计算机硬件课程不同实验电路的运行控制。设计以STM32作为主控芯片的USB和JTAG协议之间的协议转换器,用以连接计算机和FPGA中的自建JTAG边界扫描结构。以16位微程序控制的微处理器作为目标实验电路,在AlteraDE2-115教育开发板上对该系统进行了实现和验证。试验表明,该系统在可靠性、稳定性等方面均能满足高校计算机硬件实验的需求。

各种体制与用途的雷达及系统

00115(?)DDS 在相控阵雷达系统中的应用[刊]/安建平/现代雷达.—2000,22(1).—78～82(D)0011588边界扫描测试技术在雷达 BIT 电路中的应用[刊]/察豪//现代雷达.—2000,22(1).—50～53(D)提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试(BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的 I/O 口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对 VLSI 集成电路芯片的故障诊断。参400115891553B 总线在机载雷达中的应用[刊]/左平//现代雷达.—2000,22(1).—25～28(D)介绍了1553H 总线在机载雷达中的应用。就总线通讯机制、协议及通讯软件作了进一步介绍。