一种基于自适应条纹投影的高光视觉测量方法

在条纹投影轮廓术中,高光通常会导致捕获条纹的饱和,并降低测量精度。为了解决这一问题,提出了一种新的自适应条纹投影方法。采用双目提供的立体几何解相法减少条纹的投影数量,提高自适应投影的效率;采用交比不变约束,提高投影仪和相机之间的对应精度。比传统单目FPP重建结果拟合平面的标准偏差减小了0.049 mm,平面度提升了84.5%。前后两平面表面之间距离为8.829 mm,与标准值误差为0.045 mm,提升了42.3%。所提方法实现了局部过曝区域相位信息的完整提取,有效解决了高反光物体三维面形测量的难题。相比传统FPP方法重建结果有明显提升,说明本文改进算法的有效性。