过程均值偏移随机的EWMA控制图优化设计

针对过程均值偏移随机的情况,提出一种统计经济最优的指数加权移动平均控制图优化设计方法。该方法将过程受控、失控未检出、失控被检出并进行恢复这三个阶段定义为一个周期,分析了三个阶段的平均时长及质量成本构成,通过计算产品质量特性超出规格界限的概率量化缺陷产品所造成的质量损失,以单位时间内期望成本最小为目标建立指数加权移动平均控制图优化模型并设计了遗传算法,优化了样本容量、采样间隔、平滑界限和控制界限等参数。通过与休哈特均值控制图、传统指数加权移动平均控制图等进行对比验证了该模型的优越性。

基于田口质量损失函数的非正态EWMA控制图优化设计

结合随机过程均值偏移的概率分布和田口质量损失函数,研究了非正态EWMA控制图的优化设计问题。利用Burr分布近似各种非正态分布,使田口质量损失函数的总平均值最小进而确定参数的最优值,对比研究表明该方法设计的非正态EWMA(ML-EWMA)控制图明显优于统计方法设计的非正态EWMA控制图,具有较小的质量损失。