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基于近场场图的带罩天线近副瓣畸变分析
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作者 刘谊 范雪平 《电波科学学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第1期27-32,共6页
采用FEKO软件仿真带罩天线远场方向图和近场场图,采用近场场图分析远场方向图近副瓣畸变的原因.仿真过程中采用等效源技术,兼顾仿真精度和仿真效率.带罩天线方向图近副瓣畸变主要是由天线罩尖部区造成的,近场场图表明三种效应导致近副... 采用FEKO软件仿真带罩天线远场方向图和近场场图,采用近场场图分析远场方向图近副瓣畸变的原因.仿真过程中采用等效源技术,兼顾仿真精度和仿真效率.带罩天线方向图近副瓣畸变主要是由天线罩尖部区造成的,近场场图表明三种效应导致近副瓣抬升:其一,电磁波经过天线罩尖部发生明显的衍射,波阵面分叉;其二,金属雨蚀头被激励出表面电流,进而产生二次辐射;其三,部分电磁波能量经反射后透过天线罩尖部区域,反射-透射电磁波能量叠加在副瓣方向上.针对上述效应,对天线罩改进设计,改进后可明显抑制带罩天线近副瓣的抬升.近场场图分析方法揭示了天线罩局部细节和远场方向图之间的联系,对天线罩电性能优化设计有很好的指导作用. 展开更多
关键词 FEKO 场场图 带罩天线 近副瓣 畸变
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