吸波涂层雷达反射率原位测量技术

目的为满足吸波涂层在装机条件下雷达反射率原位测量的迫切需求,提出一种基于天线近场测试的雷达反射率原位测量技术。方法设计小型化超宽带天线、收发去耦结构以及屏蔽罩,构建原位测量探头,并与微波扫频模块和数据处理模块集成,研制出雷达反射率手持式宽频测量仪并。结果经对比验证,在−17~0 dB反射率范围以及2~18 GHz频率范围内,该测量仪测量结果与弓形系统测量结果偏差小于1.5 dB。结论该测量仪适用于厚度为1.5 mm以内已涂覆涂层雷达反射率的准确测量。

用扫描近场光学显微镜观察铁电畴

本文利用电畴的双折射随电畴的自发极化的取向而异的特性，采用反射式扫描近场光学显微镜，观察了铁电单晶的畴结构。横向分辨率约为50nm。对原有的Topometrix Aurora NSOM系统作了较大的改进。采用音叉（tunning fork）检测光纤探针与样品间的剪切力，取代了原有的光学法振动检测。对硫酸三甘氨酸[NH3CH2COOH）3．H2SO4）]（简称TGS）的观察说明，反工扫描近场光学显微镜，适合研究垂直b轴切割的TGS（010）面的自发极化。对这种180极化的多畴，可获得光学衬度较好电畴分布图像。与形貌图像相比，发现电畴与形貌无关。无论是新鲜解理的原子级光滑表面和表面水解的较为粗糙表面均可观察到分布较为均匀的电畴分布。

入射光的偏振特性对反射式近场光学显微镜成像结果的影响

用偶极子自洽场理论模拟计算了反射式近场光学扫描显微镜中入射光的偏振特性对近场成像结果的影响 (包括系统分辨率和相关的成像特性 ) ,并给予了相应的分析和解释。分析计算结果表明 ,入射光偏振性的选择将影响近场光学显微镜的成像质量。在近场区域 ,用垂直于样品表面偏振的入射光 (即z方向偏振 )照明成像将得到优于相应水平偏振 (即x方向偏振 )的入射光照明的系统分辨率。用x方向偏振的入射光照明时 ,所得光学图像会发生局部的光强对比度反转。