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进位保留阵列乘法器的一种内建自测试
1
作者
杨德才
陈光(礻禹)
谢永乐
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期751-754,共4页
对进位保留阵列乘法器提出了一种内建自测试方案。设计实现了采用累加器生成测试序列和压缩响应,并提出了一种改进的测试向量生成方法。分析与实验结果表明,该方案能实现非冗余固定型故障的完全覆盖。由于乘法器在数据通路中常伴有累加...
对进位保留阵列乘法器提出了一种内建自测试方案。设计实现了采用累加器生成测试序列和压缩响应,并提出了一种改进的测试向量生成方法。分析与实验结果表明,该方案能实现非冗余固定型故障的完全覆盖。由于乘法器在数据通路中常伴有累加器,该方案通过对已有累加器的复用,作为测试序列生成和响应压缩,减少了硬件占用和系统性能占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
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关键词
内建自测试
进位保留阵列乘法器
可测性设计
伪穷举测试
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职称材料
题名
进位保留阵列乘法器的一种内建自测试
1
作者
杨德才
陈光(礻禹)
谢永乐
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期751-754,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(90407007)
文摘
对进位保留阵列乘法器提出了一种内建自测试方案。设计实现了采用累加器生成测试序列和压缩响应,并提出了一种改进的测试向量生成方法。分析与实验结果表明,该方案能实现非冗余固定型故障的完全覆盖。由于乘法器在数据通路中常伴有累加器,该方案通过对已有累加器的复用,作为测试序列生成和响应压缩,减少了硬件占用和系统性能占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
关键词
内建自测试
进位保留阵列乘法器
可测性设计
伪穷举测试
Keywords
built-in selt-test
carry save array multiplier
design for testability
pseudo-exhaustive test
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
进位保留阵列乘法器的一种内建自测试
杨德才
陈光(礻禹)
谢永乐
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
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