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用发射光谱法连续摄谱检测铸铁中的硅、锰、镁
1
作者
周媛
邵伟
唐明
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期470-471,共2页
采用高压火花光源 ,一次预烧 ,连续摄谱的发射光谱法定量分析铸铁中硅、锰、镁三元素 ,加快了分析速度 ,可测定质量百分数为 1 5 0 %~ 3 5 0 %的硅、0 4 0 %~ 1 10 %的锰、0 0 10 %~ 0 0 90 %的镁 ,其相对标准偏差分别为硅 1 9%、...
采用高压火花光源 ,一次预烧 ,连续摄谱的发射光谱法定量分析铸铁中硅、锰、镁三元素 ,加快了分析速度 ,可测定质量百分数为 1 5 0 %~ 3 5 0 %的硅、0 4 0 %~ 1 10 %的锰、0 0 10 %~ 0 0 90 %的镁 ,其相对标准偏差分别为硅 1 9%、锰 3 0 %、镁 10 4 %。
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关键词
连续摄谱
原子发射光
谱
法
铸铁
硅
锰
镁
定量分析
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职称材料
题名
用发射光谱法连续摄谱检测铸铁中的硅、锰、镁
1
作者
周媛
邵伟
唐明
机构
三峡大学化学化工系
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第3期470-471,共2页
文摘
采用高压火花光源 ,一次预烧 ,连续摄谱的发射光谱法定量分析铸铁中硅、锰、镁三元素 ,加快了分析速度 ,可测定质量百分数为 1 5 0 %~ 3 5 0 %的硅、0 4 0 %~ 1 10 %的锰、0 0 10 %~ 0 0 90 %的镁 ,其相对标准偏差分别为硅 1 9%、锰 3 0 %、镁 10 4 %。
关键词
连续摄谱
原子发射光
谱
法
铸铁
硅
锰
镁
定量分析
Keywords
atomic emission spectrometry
cast iron
silicon
manganese
magnesium
分类号
TG143 [金属学及工艺—金属材料]
TG115.33 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用发射光谱法连续摄谱检测铸铁中的硅、锰、镁
周媛
邵伟
唐明
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
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