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用发射光谱法连续摄谱检测铸铁中的硅、锰、镁
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作者 周媛 邵伟 唐明 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期470-471,共2页
采用高压火花光源 ,一次预烧 ,连续摄谱的发射光谱法定量分析铸铁中硅、锰、镁三元素 ,加快了分析速度 ,可测定质量百分数为 1 5 0 %~ 3 5 0 %的硅、0 4 0 %~ 1 10 %的锰、0 0 10 %~ 0 0 90 %的镁 ,其相对标准偏差分别为硅 1 9%、... 采用高压火花光源 ,一次预烧 ,连续摄谱的发射光谱法定量分析铸铁中硅、锰、镁三元素 ,加快了分析速度 ,可测定质量百分数为 1 5 0 %~ 3 5 0 %的硅、0 4 0 %~ 1 10 %的锰、0 0 10 %~ 0 0 90 %的镁 ,其相对标准偏差分别为硅 1 9%、锰 3 0 %、镁 10 4 %。 展开更多
关键词 连续摄谱 原子发射光 铸铁 定量分析
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