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连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究
被引量:
1
1
作者
苏小元
朱祖华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期350-355,共6页
本文以连续波电光检测法(CWEOP)为基本原理,设计完成了自动电光检测系统,并采用锁相放大技术,对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试,由此对其均匀性进行了评估.通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光...
本文以连续波电光检测法(CWEOP)为基本原理,设计完成了自动电光检测系统,并采用锁相放大技术,对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试,由此对其均匀性进行了评估.通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光检测标准、最佳测试条件等,并对影响测量结果的因素进行了分析.本方法的突出优点是能够无损地对超薄层异质结外延材料不均匀的2DEG进行定位.
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关键词
分子束外延
连续波电光检测
异质结
外延材料
下载PDF
职称材料
GaAs/GaAlAs激光器列阵有源区电场分布研究
2
作者
吴小萍
朱祖华
方祖捷
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第7期958-960,共3页
用连续波电光检测法测量了激光器列阵发光区电场分布,并对其注入电流扩展作了模拟讨论。
关键词
注入电注
激光器列阵
连续波电光检测
GAALAS
原文传递
题名
连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究
被引量:
1
1
作者
苏小元
朱祖华
机构
苏州大学工学院电子系
浙江大学信息与电子工程系
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期350-355,共6页
基金
国家自然科学基金
文摘
本文以连续波电光检测法(CWEOP)为基本原理,设计完成了自动电光检测系统,并采用锁相放大技术,对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试,由此对其均匀性进行了评估.通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光检测标准、最佳测试条件等,并对影响测量结果的因素进行了分析.本方法的突出优点是能够无损地对超薄层异质结外延材料不均匀的2DEG进行定位.
关键词
分子束外延
连续波电光检测
异质结
外延材料
分类号
TN304.054 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
GaAs/GaAlAs激光器列阵有源区电场分布研究
2
作者
吴小萍
朱祖华
方祖捷
机构
浙江大学信息电子工程系
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第7期958-960,共3页
文摘
用连续波电光检测法测量了激光器列阵发光区电场分布,并对其注入电流扩展作了模拟讨论。
关键词
注入电注
激光器列阵
连续波电光检测
GAALAS
Keywords
injected current spreading, LD array, Continuous Wave Electro-opticProbing (CWEOP).
分类号
TN241 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究
苏小元
朱祖华
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
1
下载PDF
职称材料
2
GaAs/GaAlAs激光器列阵有源区电场分布研究
吴小萍
朱祖华
方祖捷
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995
0
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