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基于机器视觉的SOP芯片引脚缺陷检测研究 被引量:7
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作者 李绎铃 《科技资讯》 2018年第10期2-5,共4页
随着微电子元器件向着微小化发展,传统的人眼目检较之于在线机器视觉检测技术对于芯片缺陷的识别而言,精度低、效率低且成本高,无法满足当今芯片检测行业的高精度、高速度的要求。针对SOP芯片引脚缺陷进行基于机器视觉的检测识别方法的... 随着微电子元器件向着微小化发展,传统的人眼目检较之于在线机器视觉检测技术对于芯片缺陷的识别而言,精度低、效率低且成本高,无法满足当今芯片检测行业的高精度、高速度的要求。针对SOP芯片引脚缺陷进行基于机器视觉的检测识别方法的研究,通过一系列图像处理算法的运用,以模板匹配思想为主,以连通像素区域标记法为主要算法,采用MATLAB进行运算研究,可清晰地识别、提取出SOP芯片的各区域的特征,达到检测目的。 展开更多
关键词 图像处理 连通像素区域标记法 引脚缺陷
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