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一种时序电路的测试生成算法
被引量:
1
1
作者
佘强
陈护勋
《计算机与数字工程》
2001年第3期26-33,共8页
本文提出了一种高效的时序电路测试生成算法,该算法是建立在自适应算法的基础上,并使用了十七值逻辑模型。文章详细介绍了该测试算法的内容及其实现过程,并举例说明了该算法的测试效率。
关键词
时序电路
迭代阵列模型
电路测试生成算法
逻辑电路
计算机
下载PDF
职称材料
题名
一种时序电路的测试生成算法
被引量:
1
1
作者
佘强
陈护勋
机构
武汉数字工程研究所
出处
《计算机与数字工程》
2001年第3期26-33,共8页
文摘
本文提出了一种高效的时序电路测试生成算法,该算法是建立在自适应算法的基础上,并使用了十七值逻辑模型。文章详细介绍了该测试算法的内容及其实现过程,并举例说明了该算法的测试效率。
关键词
时序电路
迭代阵列模型
电路测试生成算法
逻辑电路
计算机
Keywords
sequtial test generation,iterative array model,efficiency of test generation
分类号
TP331.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种时序电路的测试生成算法
佘强
陈护勋
《计算机与数字工程》
2001
1
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