不同等离子几何体下He I 1083 nm光子逃逸几率的理论研究

对于无限大平板和无限长圆柱两种等离子几何体,讨论了组成He I 1083 nm共振线的1083.034 nm、1083.025 nm和1082.908 nm三条线的光子逃逸几率。计算了吸收原子在基态上的原子数密度,同时也分析了逃逸因子对谱线中心光学厚度的影响。结果表明,光子逃逸几率随着光学厚度的减小而衰减,无限大平板等离子几何体的光子逃逸几率比无限长圆柱几何体的大,这与实验结果相一致。该研究对于太阳或其他天体中氦浓度的探测具有一定参考意义。

佛克脱线型HeⅠ1 083．0nm共振线逃逸几率的计算

基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成HeⅠ1083.0nm共振线1083.034nm,1083.025nm和1082.908nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响。理论分析和实验结果相一致,此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义。

粒子在二维开放型四分之一圆形微腔中的逃逸研究

利用半经典理论对粒子在开放型四分之一圆形微腔中的逃逸过程进行了研究,推导出了逃逸几率密度的计算公式.我们研究了一簇从四分之一圆形微腔的左下方的入口出射、并从该微腔右边界逃逸的粒子轨迹.对于粒子的每一条逃逸轨迹,记录下它的传播时间和逃逸的位置.结果发现逃逸时间图随着逃逸点的位置的变化曲线呈现出振荡结构.随着碰撞次数的增加,逃逸点的位置越靠近该腔的右顶端.对一系列的探测点,找到从源点出发到达探测点的轨迹,然后应用半经典理论来构造波函数,进而给出逃逸几率密度的计算公式.研究结果标明,逃逸几率密度与探测平面上逃逸点的位置、粒子的动量、初始出射角及与微腔的碰撞次数有关.为了更清楚的看出量子力学和经典力学之间的联系,我们对体系的半经典波函数进行傅里叶变换,给出了粒子的路径长度谱.路径长度谱的每个峰值对应于一条粒子逃逸轨迹的长度.本文的研究对理解量子力学和经典力学之间的联系以及研究粒子在微腔中的的逃逸和输运过程有一定的参考价值.

佛克脱线型激光等离子体光学深度的理论分析

利用得到的精确佛克脱线型的表达式,给出了计算佛克脱线型激光等离子体的光学深度的方法。以镁原子激光等离子体为例,计算了其光学深度的大小,基于此光学深度的值,计算了镁原子等离子体逃逸几率,所得结果与实验结果一致。指出了在不同线型下利用光学深度计算激光等离子体逃逸因子的方法。