Cu-Zn-Al合金逆形状记忆组织的电镜观察

用透射电镜观察了Cu-Zn-Al合金中逆形状记忆的贝氏体组织。在外加约束应力作用下,逆记忆量可以提高一个数量级,贝氏体片侧相界面的抛物线轮廓和贝氏体片交叉曲折的现象说明了贝氏体展宽是扩散控制的切变过程。

CuZnAlMn合金的双重逆形状记忆效应

对一种CuZnAlMn合金的记忆性能进行了研宄。实验结果表明,这种合金在30℃以下及70℃以上出现逆记现象。光镜、电镜及x-射线衍射分析证明,低温逆记是应力作用下发生2H→18R型马氏体转变的结果,中温逆记是由贝氏体转变引起的。根据研究结果提出了低温逆记机制。