Cu-Zn-Al合金逆形状记忆组织的电镜观察

用透射电镜观察了Cu-Zn-Al合金中逆形状记忆的贝氏体组织。在外加约束应力作用下,逆记忆量可以提高一个数量级,贝氏体片侧相界面的抛物线轮廓和贝氏体片交叉曲折的现象说明了贝氏体展宽是扩散控制的切变过程。