透过率起伏光谱分析法测粒技术

提出的透过率起伏光谱分析法是一种新的颗粒测量方法。采用一细小光束照射匀速流动的颗粒系统，通过采集透射光起伏信号，经统计处理得到透过率的平均值与起伏谱。通过求解逆问题，从透过率的起伏谱中得到颗粒粒径分布信息，再结合透过率的平均值得到颗粒的体积分数信息。给出了关于单层颗粒透过率的平均值与起伏谱的理论表达式，并推广到三维单分散和多分散的颗粒系统。对粒径在32～425μm内的稀薄颗粒系进行了部分实验测试和模拟计算，结果表明该方法可同时对颗粒粒径分布和体积分数进行有效测量。