专用集成电路入检测试系统

专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途,被测对象的主要技术指标,测试系统的组成、功能及主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法, 开发研制了集成电路入检设备,该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。