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题名一种部分流水的多塔三维SoC测试时间优化算法
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作者
邵晶波
王丹
王岩
张瑞雪
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机构
哈尔滨师范大学计算机科学与信息工程学院
哈尔滨金融学院计算机系
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出处
《计算机工程与科学》
CSCD
北大核心
2021年第11期1934-1943,共10页
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基金
黑龙江省自然科学基金(LH2019F027)
哈尔滨师范大学科技发展预研项目(901-220601094)。
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文摘
针对硬晶片构成的多塔三维SoC绑定中测试,提出考虑测试访问机制、层间硅通孔数和测试功耗约束的测试时间优化算法。只要任意一种测试资源约束不满足待调度晶片测试,就依次释放最早结束测试的晶片测试资源,直到待调度晶片尽可能提前测试为止,以此实现该晶片与未结束测试晶片的部分流水。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路,手工搭建2种塔内包含子塔的多塔三维SoC。实验结果表明,与已有算法相比,提出的算法减少了空闲时间块,显著缩短了总测试时间;实验还发现,与增加TSV数相比,增大测试引脚数更能有效减少多塔三维SoC的总测试时间。
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关键词
多塔三维SoC
部分流水
测试时间
空闲时间块
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Keywords
multi-tower 3D SoC
partially pipelined
test time
idle test time block
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分类号
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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