基于信息理论的采样成像系统优化设计方法

本文把信息论应用于采样成像系统中,用端到端的互信息量评价图像捕捉系统,研究光电一体化系统优化设计方法。模拟系统设计参数,计算机仿真分析了采样成像系统中普遍存在的欠采样噪声、光学成像系统的模糊效应以及二者之间的涨落、平衡,做出了基于互信息量的系统评价仿真曲线,提出了光学成像系统与图像捕捉系统的匹配条件和优化设计方法。

基于信息理论的采样成像系统评价方法

论述了基于信息理论的采样成像系统评价的理论基础,讨论了光学系统信息量、图像信息量的处理方法。提出了采样成像系统中基于信息理论的光电一体化系统设计方法。通过实现光学成像系统与CCD探测系统的匹配设计,减小了欠采样噪声,改善了成像质量。

光学采样成像系统传递函数补偿的试验研究

简要介绍了传递函数补偿(MTFC)验证试验,通过物理仿真和基于ISO20462的最小可觉差(JND)主观评价,对光学采样成像系统MTFC进行了研究。在实验室建立模拟采样成像系统进行物理仿真;通过对7次JND评价数据之间的相互验证,说明JND主观评价具有客观性,试验数据和MTFC验证结论准确可信。

光学采样成像系统传递函数补偿的仿真研究

简要概述了光学采样成像系统组成及调制传递函数补偿(MTFC)概念;采用计算机仿真的方法模拟成像链路,MTFC是成像链路的一个重要环节,通过改变成像链路中的参数,研究链路中的混叠、光学遥感器噪声、量化、有损压缩对MTFC的影响。

采样成像系统的CTF与MTF的关系研究

文章就采样成像系统的CTF和MTF的关系进行了探讨。

采样成像系统中的混叠问题研究

文章就采样成像系统中的混叠问题进行了探讨。

采样成像系统的性能评估

随着 FPA的广泛应用 ,采样效应对热成像系统的影响越来越突出 ,以致影响了采样热成像系统的评估和测试 .本文论述了采样成像系统不同于非采样成像系统的特点 ,阐述了建立成像系统评估和测试系统的步骤和方法 。

基于互信息的干涉成像采样系统性能分析

为了优化干涉采样成像系统的设计,采用端到端的互信息量评价系统的性能.建立了基于互信息的干涉采样成像系统数学模型.利用该模型得到了互信息量最大时光学成像系统和CCD的匹配条件:相干成像光学系统的截止频率等于CCD的Nyquist频率.分析了物体频谱分布、噪声、光源相干性和光学成像系统像差对互信息量的影响.结果表明,它们不影响光学成像系统和CCD的匹配条件.

采样式航天光学遥感成像系统混叠噪声

为了准确计算采样式航天光学遥感成像系统中混叠噪声的权重和分析系统设计参数的影响,采用经验景物模型,模拟成像系统主要噪声源的统计特性,提出了一种含混叠的成像系统噪声计算模型。采用该模型,以某卫星高分辨率相机成像系统为例,计算混叠噪声功率占总噪声功率的百分比,并对不同λF/p参数和不同景物参数的情况进行了仿真。结果表明:该卫星高分辨率相机成像系统中,混叠噪声占较大比重;当提高λF/p时,可有效降低混叠噪声。

采样目标统计特性与CCD探测系统设计

基于信息理论研究采样成像系统 ,寻求提高图像质量的新途径。建立了图像采集系统分析模型 ,计算机仿真分析图像采集系统端到端信息率与采样目标统计特性的关系。研究结果表明 ,当采样间隔接近采样目标的平均空间细节时 ,图像采集系统端到端信息率最大 ,图像质量最理想。

传输型CCD相机综合像质评价方法的研究

介绍了以CCD探测器为图像载体的CCD相机整机系统的综合像质评价方法。通过成像理论建模,分别对光学系统、CCD器件及相机整机系统进行调制传递函数分析。利用CCD器件的"离散采样"特性不满足线性空间不变性的条件,确定调制传递函数的使用限制条件。给出了CCD相机整机系统的调制传递函数测试方案和测试条件,完成了实验室整系统"调制传递函数"的检测试验,并对检测结果进行分析与评价,实现了CCD相机整机系统的像质评价。

光电成象技术及器件

TN14 96053354采样成像系统的传递性能分析=Transfer performance analysts for sampled image systems[刊,中]厂陈立学(西安应用光学研究所.陕西,西安(710100))∥光学学报.—1995,15(11).—1547—1551应用近代光学的方法。

基于地面周期靶标的光学遥感相机在轨调制传递函数测量方法

为了克服传统的基于周期靶标的在轨调制传递函数测量方法中测量精度过分依赖靶标组数的问题,通过对传统方法的原理进行深入剖析,提出了一种新的测量方法。在获得多组具有一定相位差异的地面周期靶标图像数据后,充分利用所有采样数据及相应相位关系,进行参数拟合,得到地面靶标经成像系统后的调制度,对比输入调制度计算调制传递函数。仿真及实际光学遥感相机的实验结果表明:仅利用两组靶标,理论上所提方法的测量精度可优于0.5%;测试图像噪声、靶标周期匹配偏差、测量角度匹配偏差等因素对测量误差的影响均在4%以内,该测量方法的适应性较高。所提方法的计算结果与倾斜刃边法具有良好的一致性,可以应用于高分辨率光学遥感相机的在轨调制传递函数测量。

半导体器件

Y2002-63196-359 0311943碳化硅门电路关断晶闸管(GTOs):静态与动态特性=Silicon carbide GTOs:static and dynarnic characterization[会,英]/Elasser,A.& Park,J.//2001 IEEE IndustryApplications Conference,Vol.1 of 4.—359～364(ME)Y2002-63209-175 0311944硅电力半导体器件的电压控制能力和关断方法=Voltage handling capability and termination techniques ofsilicon power samiconductor devices[会,英]/Charitat,G.//2001 IEEE Proceedings of the 2001 Bipolar/BiC-MOS Gircuits and Technology Meeting.—175～183(TE)