X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量

应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。

X射线荧光光谱法测定磷矿中Na元素的重叠校正

根据钠的X射线荧光光谱扫描图中干扰线ZrLα1,2(2θ=24.60°,2次线),ZnLα1,2(2θ=24.83°,1次线),ZnLβ1(2θ=24.17°,1次线),对NaKα1,2的干扰谱信息,采用数学方法和重叠校正后的系数计算分析元素的强度,此法可降低或消除重叠干扰,提高测量的准确度。

X荧光测定铌钽原矿中铌和钽及不确定度评定

本文建立了X射线荧光熔片法测定铌钽原矿中铌和钽的分析方法。采用低稀释比(Li2B4O7:LiNO3:样品=4:0.6:1)制备熔融玻璃片,以光谱纯SiO2、Al2O3和Fe2O3混合物为基体,添加Nb、Ta标准溶液及少量干扰元素Rb、Y、Mo、Zr、W、Ce制备校准曲线所用标准样品。使用Rh靶compton散射线为内标线校正基体效应对Nb元素的影响;Ta元素则外加HfO2,并用Hf Lβ3为内标线。本文讨论了复杂铌钽原矿和本实验试剂中含有的Br、Rb、Y、Mo、Zr、Nb、W、Hf和Ta各元素之间的光谱干扰。对于Br、Rb、Y、Nb及Hf和Ta之间的谱线重叠干扰,采用干扰系数法逐级扣除;而Mo Kα和Zr Kα背景对Nb Kα的影响及W Lα背景对Ta Lα的影响,则分别通过选取40.000°和70.500°公共背景点来避免,最后得到分析元素Nb Kα和Ta Lα谱线净强度。本文选用钽矿石成分分析标准物质(GBW07155)作为方法验证样品,并对Nb、Ta测量结果不确定度进行评定。最终本方法报出结果:w(Nb_(2)O_(5))=(0.044±0.002)%(k=2);w(Ta2O5)=(0.069±0.002)%(k=2)。

理论α系数和经验系数法相结合校正-X射线荧光光谱法测定铁矿石中14种组分

采用熔融法制样，建立了X射线荧光光谱法（XRF）测定铁矿石中14种组分（TFe、CaO、Si02、MgO、A1203、MnO、Ti02、K2O、Na2O、Ni、Cu、Co、P、S）含量的方法。通过试验确定熔解铁矿石最佳的熔剂为混合熔剂[翮（Li2B407）：m（LiB02）=67：33]，稀释比为1：2O，预氧化条件为700℃下预氧化10rain。此措施很好地解决了低含量元素和轻元素因熔剂影响而测量强度下降的问题。使用理论0t系数和经验系数法相结合进行校正，有效地消除了基体效应和重叠谱线干扰的影响，校正后校准曲线的离散度（RMS）较小。各组分的检出限在O．61～335．09μg／g之间。对铁矿石试样进行精密度考察，各组分含量的相对标准偏差在O～8．7％范围内；对铁矿石标准样品进行分析，各组分的测定值与认定值相符。相对于其他铁矿石分析的XRF方法，实验方法可用于Co、Ni、Cu及难于准确测量的Na和S的测定，且满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。

X射线荧光光谱法测定铜熔炼渣中的13种常规元素

采用粉末压片法制样,X射线荧光光谱法测定铜熔炼渣中的铜、铁、硫等13种常规元素含量。通过试验调整压样压力、光管电流、电压及校正元素等工艺和仪器参数,优化了测量条件。通过经验系数校正、谱线重叠校正等修正方式使校正曲线线性良好。试验数据表明样品分析的相对标准偏差(RSD)在0.29%~1.57%之间,该方法测定结果与化学分析法结果符合性较好。该方法样品预处理简单,分析范围广且速度快,分析结果精密度高,准确性好,检出限低,能够满足冶炼工作中对铜熔炼渣快速分析的要求。

X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定。讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜<6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍<14.0%以外,其余各组分均小于3.0%。

X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%。

X射线荧光光谱法测定铬、钒、钛共存的钛合金中12种元素

采用X射线荧光光谱分析钛合金时,由于共存元素之间存在严重谱线干扰和基体效应,使元素含量与谱线强度之间相关性差,影响测定结果的准确度和精密度,尤其是铬、钒、钛3元素共存的钛合金是X射线荧光光谱检测遇到的难题。试验通过利用多套钛合金标准样品制作校准曲线,选择适合谱线和测试条件,校正谱线重叠干扰和基体效应的方法有效地解决钛合金中共存元素的干扰,其中谱线重叠干扰通过测量计算钛元素Kβ线对钒元素Kα线的重叠系数,钒元素Kβ线对铬元素Kα线的重叠系数来解决。方法已用于钛合金样品中钼、锡、锆、钒、铝、锰、铁、铬、钨、镍、铜、硅共12个主次元素含量的测定,测定值与化学法测定值相符,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于1.0%。方法可供航空用α、β、α+β3类钛合金中主次元素的检测。

熔融制样-X射线荧光光谱测定不锈钢渣中10种组分

采用玻璃片熔融方法制样，建立了x射线荧光光谱（XRF）分析不锈钢渣中氧化铝、二氧化硅、氧化钙、氧化镁、三氧化二铁、氧化锰、三氧化二铬、二氧化钛、氧化镍和五氧化二磷的快速检测方法。以四硼酸锂-偏硼酸锂（质量比1：1）为熔剂，稀释比1：24，在1100℃下，静置5min，摇摆20min熔融，制得均匀不锈钢渣玻璃片。选用炉渣标准样品、三氧化二铬高纯试剂及镍标准溶液合成系列不锈钢渣校准样品，经X射线荧光光谱仪测定并绘制校准曲线，采用谱线重叠干扰校正系数和基体效应校正系数有效地消除了光谱干扰和基体效应。采用高纯氧化物和标准溶液配制不锈钢渣合成样品，采用实验方法对合成样品及生产样品进行分析，测定值与参考值或湿法测定值一致；精密度试验结果显示，各组分测定结果的相对标准偏差（RSD，n=9）为0．34％～9．4％。

X射线荧光光谱分析铸铁中28种元素

对铸铁的X射线荧光光谱分析方法进行系统的研究,包含C、Mg、Al、Si、Mn、P、S、V、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Zr、Nb、Mo、Sn、Nd、Ce、La、W、Pb、Bi、Te、Sb 28种元素进行测定。试验通过利用国内外21块铸铁标准样品拟合成一套铸铁的通用校准曲线,选择合适谱线和测量条件并进行有效的背景扣除,其中,测定P、S、Mn、Co、As受共存元素谱线重叠干扰的校正系数,解决了元素之间谱线重叠干扰的问题;Pb元素选用Lβ1谱线做分析线,以避免As元素的谱线干扰;Te、Sb、Sn均选用Kα谱线,并采用高分辨狭缝以提高峰背比;C、Mg采用高灵敏狭缝,有效解决了元素间干扰问题及超轻元素、微量杂质元素的检测难题。方法用于铸铁标准样品中主次元素的检测,测定值与认定值相符,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于1.5%。

岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定

用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。

X射线荧光光谱法测定煤中常量和微量元素的实验分析

文章分析采用的样品是硼酸镶边垫底样品,样品经过压片制粉。然后通过Bruker-axs公司生产S4 Pioneer X射线专用荧光光谱仪来监测多煤田样品中的主要元素。第一种是Al2O3;第二种是Ca O;第三种是Fe2O3;第四种是K2O;第五种是Mg O;第六种是Na2O;第七种是Si O2。通过X射线来具体对上述元素进行测定。文章主要从X射线荧光光谱法的角度来测定煤中的常量以及微量元素。通过实验的方式来具体分析,希望通过文章的分析以及阐述能够有效的提升我国X射线荧光光谱法的应用以及推广,为我国元素测定做出一定的贡献。

粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分

采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。

铜合金X射线荧光光谱通用工作曲线制作—FP法虚拟合成标样应用

X射线荧光光谱仪的问世给铁、镍、铝、钛、镁和铜等合金的成分分析提供了有力的工具,它快速、准确,尤其是在准确性和高含量分析方面比直读光谱法更具有优越性。文章所述方法选择了6套标准样品,采用FP法虚拟合成一个单标样,该方法可供分析铜合金中16个元素,分析结果可靠,分析范围宽广。

合金钢X射线荧光光谱通用工作曲线制作——P法虚拟合成标样应用

本文针对合金钢的化学成分,选择适宜于合金钢中各元素分析的激发电压和电流、测量角度及脉冲范围等仪器条件,选择两套合金钢标准样品,采用FP法虚拟合成了一个标样,建立适合合金钢成分分析的单标灵敏度曲线。该方法可用于分析合金钢中的18个元素,基本涵盖了低合金钢、中合金钢、结构钢及工具钢,甚至可以拓展至不锈钢中可能存在元素的准确分析,检测结果可靠,分析范围广。

基于X射线荧光光谱法测定煤中常量和微量元素

采用硼酸镶边垫底的粉末样品压片制样,用Bruker-axs公司的S4 PioneerX射线荧光光谱仪对多煤田勘探样品中Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、SiO2等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法、变动α系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07401—GBW07408水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Sc和Th<14.00%以外,其余各组分均小于5.00%。

粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定二氧化锆材料中二氧化锆的含量

以题示方法测定二氧化锆材料中二氧化锆含量,并研究了取样量以及谱线重叠对二氧化锆测定的影响。将样品研磨成粒径小于75μm的粉末,于105℃加热2 h。将2 g硼酸作为衬底置于压样机压腔中,铺平,称取不少于2.00 g样品粉末均匀覆盖在硼酸上,在压力410 kN,保压时间20 s的条件下,压制成外径为40 mm的样片,按仪器工作条件测定。结果表明:取样量为1.00 g时,样片厚度低于临界厚度(167 nm),且样片辐射面厚薄不均,二氧化锆测定值偏低;取样量不小于2.00 g时,虽然样品分析层密度降低,二氧化锆测定值降低,但是其影响可用归一法校正消除;二氧化锆样品中的锆元素会在钼、铈和钕元素分析谱线处会产生较强的谱线重叠干扰,可通过调整钼、铈和钕的谱线重叠校正系数消除。方法用于4个实际样品和二氧化锆标准物质GBW 06602的分析,测定值的相对标准偏差(n=5)不大于0.15%;和熔融制样-X射线荧光光谱法结果比对,两种方法的测定值基本一致,标准物质的测定值均在认定值的不确定度范围内。