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因子分析在X射线荧光光谱重叠谱峰识别中的应用 被引量：5
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作者 甘露 罗立强 吴晓军 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第1期91-94,共4页
用渐进因子分析 (EFA)方法处理合金样品的X射线荧光扫描谱数据 ,按照数学原理选取扫描步长 ,根据XRF特性选择合适的训练集建立数学模型 ,可以准确判断谱峰重叠 ,该方法在合理取点和组分含量相当的情况下有良好的识别能力。
关键词 因子分析 X射线荧光光谱 重叠谱识别 合金样品
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