期刊文献+
共找到3篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
LPCVD自组织生长Si纳米量子点的发光机制分析 被引量:2
1
作者 彭英才 稻毛信弥 +1 位作者 池田弥央 宫崎诚一 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期261-264,共4页
采用低压化学气相沉积 (LPCVD)方法 ,通过纯SiH4气体的表面热分解反应 ,在SiO2 表面上自组织生长了半球状Si纳米量子点 ,在室温条件下实验研究了其光致发光 (PL)特性 ,考察了PL效率与峰值能量随Si纳米量子点尺寸的变化关系。结果指出 ,... 采用低压化学气相沉积 (LPCVD)方法 ,通过纯SiH4气体的表面热分解反应 ,在SiO2 表面上自组织生长了半球状Si纳米量子点 ,在室温条件下实验研究了其光致发光 (PL)特性 ,考察了PL效率与峰值能量随Si纳米量子点尺寸的变化关系。结果指出 ,当Si纳米量子点高度hc<5nm时 ,其PL效率基本保持不变。而当hc>5nm时 ,PL效率则急剧下降。同时 ,PL峰值能量随hc 的减少而增大 ,并与 (l/hc) 2 成正比依赖关系。如当hc 从 5 5nm减小至 0 8nm时 ,其峰值能量从 1 2 8eV增加到 1 4 3eV ,出现了约 0 15eV的谱峰蓝移。我们用量子限制效应 展开更多
关键词 LPCVD 自组织生长 发光机制 Si纳米量子 量子限制效应-界面中心复合发光 低压化学气相沉积
下载PDF
纳米硅薄膜/多孔氧化铝复合体系光致发光的温度特性 被引量:1
2
作者 曹小龙 李清山 +1 位作者 王清涛 张利宁 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第6期725-730,共6页
利用高真空电子束蒸发方法在多孔氧化铝衬底上生长了纳米硅薄膜,经过650℃高温真空退火后,在10~300K温度范围内观测样品的荧光光谱特性,并对样品进行了场扫描电镜(SEM)、傅里叶变换红外吸收(FTIR)光谱、X射线衍射(XRD)谱的分析。PL谱... 利用高真空电子束蒸发方法在多孔氧化铝衬底上生长了纳米硅薄膜,经过650℃高温真空退火后,在10~300K温度范围内观测样品的荧光光谱特性,并对样品进行了场扫描电镜(SEM)、傅里叶变换红外吸收(FTIR)光谱、X射线衍射(XRD)谱的分析。PL谱结果表明,随着温度的升高,样品的发光峰位一般发生红移,但在50~80K范围内却出现了反常的蓝移现象;样品的发光强度基本是按逐渐减小趋势变化的,在60~80K之间,发光强度有少许变强。讨论了纳米硅薄膜的光致发光机理,用量子限制 发光中心模型对实验现象进行了解释。 展开更多
关键词 纳米硅 光致发光 量子限制-发光中心
下载PDF
纳米硅薄膜的发光特性研究
3
作者 刘明 傅东锋 +2 位作者 何宇亮 李国华 韩和相 《固体电子学研究与进展》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期57-59,共3页
研究了 nc- Si:H薄膜的光致发光 ( PL) ,分析了晶粒尺寸、温度对发光特性的影响。对发光样品 ,晶粒尺寸有一上限 ,其值在 4~ 5nm之间。在 10~ 77K,nc- Si:H薄膜的发光强度几乎没有变化 ;当温度高于 77K,发光强度指数式下降。随温度升... 研究了 nc- Si:H薄膜的光致发光 ( PL) ,分析了晶粒尺寸、温度对发光特性的影响。对发光样品 ,晶粒尺寸有一上限 ,其值在 4~ 5nm之间。在 10~ 77K,nc- Si:H薄膜的发光强度几乎没有变化 ;当温度高于 77K,发光强度指数式下降。随温度升高 ,发光峰位有少许红移。讨论了nc- Si:H光致发光机理 ,用量子限制 -发光中心模型对实验现象进行了解释。从载流子的激发、复合两方面讨论了发光过程 ,认为载流子在晶粒内部激发后 ,弛豫到晶粒界面的发光中心复合发光。 展开更多
关键词 纳米硅 光致发光 量子限制-发光中心模型 薄膜
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部