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铝压铸件中的硬质点及硬质金属杂质相 被引量:7
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作者 陆树荪 徐明钢 +7 位作者 赵愉 陈敏之 薛黎明 叶苗 陈定兴 夏广亿 陶承华 王诚 《特种铸造及有色合金》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第4期10-12,共3页
研究了铝合金压铸件中的硬质点和基体材质较硬区中几种硬质金属杂质相 (如AlSiMnFe等 )的形貌和本质 ,讨论了它们产生的原因 ,并提出了防止的措施。
关键词 硬质点 铝压铸件 硬质金属杂质相 汽车
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铝压铸件中的硬质点及硬质金属杂质相
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作者 陆树荪 徐明钢 +7 位作者 赵愉 陈敏之 薛黎明 叶苗 陈定兴 夏广亿 陶承华 王诚 《特种铸造及有色合金》 CAS CSCD 北大核心 2002年第S1期-,共3页
研究了铝合金压铸件中的硬质点和基体材质较硬区中几种硬质金属杂质相 (如AlSiMnFe等 )的形貌和本质 ,讨论了它们产生的原因 。
关键词 硬质点 金属杂质相 铝压铸件
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Metalorganic Chemical Vapor Deposition of GaNAs Alloy Using Dimethylhydrazine as Nitrogen Precursor
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作者 韦欣 马骁宇 +3 位作者 王国宏 张广泽 朱晓鹏 陈良惠 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期562-570,共9页
GaNAs alloy is grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) using dimethylhydrazine (DMHy) as the nitrogen precursor.High resolution X ray diffraction (HRXRD) and secondary ion mass spectro metry (SIMS... GaNAs alloy is grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) using dimethylhydrazine (DMHy) as the nitrogen precursor.High resolution X ray diffraction (HRXRD) and secondary ion mass spectro metry (SIMS) are combined in determining the nitrogen contents in the samples.Room temperature photoluminescence (RTPL) measurement is also used in characterizing.The influence of different Ga precursors on GaNAs quality is investigated.Samples grown with triethylgallium (TEGa) have better qualities and less impurity contamination than those with trimethylgallium (TMGa).Nitrogen content of 5 688% is achieved with TEGa.The peak wavelength in RTPL measurement is measured to be 1278 5nm. 展开更多
关键词 GaNAs MOCVD IMPURITY contamination HRXRD SIMS
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