含金属锡铟的导电银厚膜的抗氧化机理研究

通过在导电银电子浆料中添加适量的金属锡铟粉末,得到一种新的抗氧化银浆,并采用丝网印刷技术制备银厚膜.探讨了厚膜在自然时效氧化和硫化氢气氛中硫化氧化的过程及机理,采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱(EDS)和X射线衍射(XRD)对银厚膜表面的微观形貌和元素成分进行分析.结果表明,含金属锡铟的银厚膜比纯银厚膜具有更好的抗氧化性.热力学分析表明,添加的金属锡铟与氧气、硫化氢反应的Gibbs自由能比纯银的小,更易在厚膜的晶界/孔洞缺陷处发生氧化反应,延缓银的氧化,从而提高银厚膜抗氧化能力.