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金属-电介质多层膜结构亚波长成像特性分析(英文) 被引量：1
1
作者 郑改革 蒋立勇 +1 位作者 强海霞 李相银 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期2011-2014,共4页
分析了由Ag和Si3N4多层纳米薄膜组成的特异材料的模式特性,使用本征模展开法(EME)结合完全匹配层(PML)边界条件模拟了该结构的亚波长成像行为,在法布里-珀罗(Fabry-Perot)条件(结构的长度是半波长的整数倍)条件下,研究发现邻近系统的点... 分析了由Ag和Si3N4多层纳米薄膜组成的特异材料的模式特性,使用本征模展开法(EME)结合完全匹配层(PML)边界条件模拟了该结构的亚波长成像行为,在法布里-珀罗(Fabry-Perot)条件(结构的长度是半波长的整数倍)条件下,研究发现邻近系统的点源会在另一侧成实像,这种成像基于自准直而并不是负折射.研究结果证实了金属-电介质多层膜结构可以在光波段实现近场成像. 展开更多
关键词 亚波长成像 自准直 金属-电介质多层膜 本征模展开法
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