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一种用于在片器件直接测量的新型SOLT校准方法
被引量:
9
1
作者
胡江
孙玲玲
《微波学报》
CSCD
北大核心
2006年第B06期135-137,共3页
介绍了一种“针尖前移”的在片SOLT校准方法,使用这种校准方法可以将测试参考面直接校准到内部被测件,从而可以进行无去内嵌(De-embedding)操作的直接测量。通过对在片平面螺旋电感的测试验证,证明这是一种精确高效的新校准方法。
关键词
在片
被测件
SOLT校准
针尖前移
下载PDF
职称材料
题名
一种用于在片器件直接测量的新型SOLT校准方法
被引量:
9
1
作者
胡江
孙玲玲
机构
浙江大学信电系
杭州电子科技大学CAD所
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2006年第B06期135-137,共3页
文摘
介绍了一种“针尖前移”的在片SOLT校准方法,使用这种校准方法可以将测试参考面直接校准到内部被测件,从而可以进行无去内嵌(De-embedding)操作的直接测量。通过对在片平面螺旋电感的测试验证,证明这是一种精确高效的新校准方法。
关键词
在片
被测件
SOLT校准
针尖前移
Keywords
on-wafer; DUTs; SOLT calibration; tip-extension
分类号
TM935 [电气工程—电力电子与电力传动]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种用于在片器件直接测量的新型SOLT校准方法
胡江
孙玲玲
《微波学报》
CSCD
北大核心
2006
9
下载PDF
职称材料
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