Pu600能窗钚丰度算法

美国LLNL提出了采用钚材料7谱的Pu600能窗（630-670keV）计算钚丰度，本文用此能窗建立了钚丰度算法，并对几个不同样品的谱数据进行了丰度计算。用PC／FRAM对这些谱数据进行了丰度计算验证，两者的计算结果吻合较好。

γ能谱法测定钚同位素丰度

介绍了用γ能谱法无损测定钚同位素丰度的基本原理，使用１２０—４２０ｋｅＶ能区γ射线谱分析计算钚同位素丰度的方法及目前在实验室对１００ｍｇ钚样品测定钚同位素丰度所能达到的精度。描述了１台用于测定钚同位素组成的低能小平面锗γ谱仪系统，该装置及测量方法已用于核设施所产生物料的现场测试。

CMGA:一个利用钚的94—104keV γ和X射线非破坏分析其同位素丰度的软件

钚样品γ能谱94—104keV能区中有22条X及γ射线可用来提供其同位素丰度信息。本文介绍我们开发的用来解析该能区的CMGA1.0(ChinaMultipleGroupAnalysis,Version1.0)软件。利用该软件分析当前我们所能取得的唯一的具有质谱分析结果的样品。其240Pu/(239Pu+240Pu)多次测量的平均值与质谱法给出的对应数值之比为1.004,相对标准偏差为1.4%。

钚γ能谱专用分析软件 WSGCDPS

介绍了自行开发的钚γ能谱分析专用软件ＷＳＧＣＤＰＳ的特点及其分析结果的准确度和精确度。标样分析结果在误差范围内与质谱法所给的结果相符。分析精度处在美国Ｃ１０３０－９５标准文件的要求范围内。

热表面电离质谱法测定钚氧化物中的钚同位素组成

采用热表面电离质谱法对钚氧化物中钚同位素丰度进行了测定。通过对钚氧化物样品预处理、离子源和分析器的真空控制、法拉第杯接收效率检测、测量过程中的信号强度大小控制、信号强度稳定性控制以及测量时间的控制等条件进行优化,确定了最佳预处理条件和测量条件,实现了钚氧化物中钚同位素组分的准确测定。在选定的条件下,测定了钚标准样品中的钚同位素丰度,主同位素239Pu和242Pu测量精密度(sr)均优于0.05%(n=6)。

γ射线峰形描述技术 CDPS

以钚的γ射线谱为例，介绍自行提出的γ射线峰形描述方法ＣＤＰＳ（ＣｈａｎｇｅａｂｌｅＤｉｇｉｔａｌＰｅａｋＳｈａｐｅ）。对分别用ＣＤＰＳ峰形描述技术和高斯峰形函数得到的２４０Ｐｕ丰度分析的结果作了比较。