ICP-AES测定高纯钨中杂质元素

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题，能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素，回收率高于９０％，相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段．