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半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用研究进展
被引量:
3
1
作者
李保强
陈金
+2 位作者
刘文迪
黄志民
李秋红
《中国钨业》
CAS
2020年第3期48-55,共8页
钨硅薄膜具有电阻率低、热稳定性强及抗化学腐蚀性能优异等特点,是半导体集成电路重要的构成部分,主要作为栅极接触层、扩散阻挡层或者黏附层等来进行使用。本文归纳了半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用方面的研究进展,首先分别对物理...
钨硅薄膜具有电阻率低、热稳定性强及抗化学腐蚀性能优异等特点,是半导体集成电路重要的构成部分,主要作为栅极接触层、扩散阻挡层或者黏附层等来进行使用。本文归纳了半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用方面的研究进展,首先分别对物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)制备钨硅薄膜的方法进行介绍,并分析了各种制备工艺的优缺点,并进一步对钨硅薄膜在半导体中的主要应用场景进行了介绍。最后分析了钨硅薄膜的未来发展前景,认为随着半导体产业的不断发展及钨硅薄膜应用的持续拓宽,钨硅薄膜的重要性将会进一步显现,钨硅薄膜的制备技术必将获得进一步的提升。
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关键词
半导体
钨硅薄膜
物理气相沉积
化学气相沉积
应用现状
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职称材料
题名
半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用研究进展
被引量:
3
1
作者
李保强
陈金
刘文迪
黄志民
李秋红
机构
厦门大学电子科学与技术学院
厦门大学萨本栋微米纳米科学技术研究院
厦门虹鹭钨钼工业有限公司
出处
《中国钨业》
CAS
2020年第3期48-55,共8页
基金
国家重点研发计划项目(2017YFB0305603)。
文摘
钨硅薄膜具有电阻率低、热稳定性强及抗化学腐蚀性能优异等特点,是半导体集成电路重要的构成部分,主要作为栅极接触层、扩散阻挡层或者黏附层等来进行使用。本文归纳了半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用方面的研究进展,首先分别对物理气相沉积(PVD)和化学气相沉积(CVD)制备钨硅薄膜的方法进行介绍,并分析了各种制备工艺的优缺点,并进一步对钨硅薄膜在半导体中的主要应用场景进行了介绍。最后分析了钨硅薄膜的未来发展前景,认为随着半导体产业的不断发展及钨硅薄膜应用的持续拓宽,钨硅薄膜的重要性将会进一步显现,钨硅薄膜的制备技术必将获得进一步的提升。
关键词
半导体
钨硅薄膜
物理气相沉积
化学气相沉积
应用现状
Keywords
semiconductor
tungsten silicide films
physical vapor deposition
chemical vapor deposition
application status
分类号
TN305.8 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
半导体用钨硅薄膜的制备技术及应用研究进展
李保强
陈金
刘文迪
黄志民
李秋红
《中国钨业》
CAS
2020
3
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