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能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量
被引量:
2
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作者
杨明太
陈锦华
齐红莲
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期139-141,138,共4页
在涂钯硅藻土样品中定量加入内标元素 Mo和王水 ,制成分析试样 ,用能量色散 X射线荧光( EDXRF)法测定钯含量。该方法可测定钯含量为 5%~ 50 %范围的涂钯硅藻土样品 ,方法快速、简便 ,其相对标准偏差优于 1% ,回收率 98%~ 10 8%。
关键词
X射线荧光
涂
钯
硅藻土
内标法
钯含量测定
EDXRF
吸附剂
下载PDF
职称材料
题名
能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量
被引量:
2
1
作者
杨明太
陈锦华
齐红莲
机构
中国工程物理研究院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期139-141,138,共4页
文摘
在涂钯硅藻土样品中定量加入内标元素 Mo和王水 ,制成分析试样 ,用能量色散 X射线荧光( EDXRF)法测定钯含量。该方法可测定钯含量为 5%~ 50 %范围的涂钯硅藻土样品 ,方法快速、简便 ,其相对标准偏差优于 1% ,回收率 98%~ 10 8%。
关键词
X射线荧光
涂
钯
硅藻土
内标法
钯含量测定
EDXRF
吸附剂
Keywords
X ray fluorescence
diatom earth coat with palladium
inside standard method
the content of palladium
分类号
TQ424.22 [化学工程]
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作者
出处
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1
能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量
杨明太
陈锦华
齐红莲
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001
2
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