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能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量 被引量:2
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作者 杨明太 陈锦华 齐红莲 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期139-141,138,共4页
在涂钯硅藻土样品中定量加入内标元素 Mo和王水 ,制成分析试样 ,用能量色散 X射线荧光( EDXRF)法测定钯含量。该方法可测定钯含量为 5%~ 50 %范围的涂钯硅藻土样品 ,方法快速、简便 ,其相对标准偏差优于 1% ,回收率 98%~ 10 8%。
关键词 X射线荧光 硅藻土 内标法 钯含量测定 EDXRF 吸附剂
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